TLP250驅(qū)動(dòng)MOS出現(xiàn)了問題
我用TLP250直接驅(qū)動(dòng)MOS管，工作時(shí)波形都很正常，也不錯(cuò)。但當(dāng)斷掉光藕的15V輔電時(shí)意外出現(xiàn)了，發(fā)現(xiàn)一個(gè)橋臂的兩個(gè)MOS管直通了，用示波器測(cè)量斷電瞬間MOS管驅(qū)動(dòng)GS出現(xiàn)了2V左右的一個(gè)尖峰，所以導(dǎo)致直通了。大家分析下為什么會(huì)出現(xiàn)這個(gè)尖峰啊。我后來在不接MOS管情況下，斷掉光藕的15V輔電時(shí)直接測(cè)量，光藕的6腳還有尖峰。難道TLP250自身就有這個(gè)問題？？？？？？？求證啊，各位高手?。?！怎么能去掉這個(gè)尖峰呢？？？？
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當(dāng)你斷掉輔電，也就是間接斷掉快速泄放回路，單純靠并聯(lián)的10K電阻回路泄放，導(dǎo)致MOS電荷不能及時(shí)泄放，而DS仍有較大電流流過，那么G相對(duì)S極有個(gè)電壓也不足為奇了。再則由于關(guān)斷的時(shí)間延長(zhǎng)，MOS管內(nèi)部多重因素的效應(yīng)最終導(dǎo)致?lián)p壞。
其實(shí)把這思想用在分析IGBT也一樣，IGBT就是一個(gè)元件，制造出來本身就有其自身的特性。雖然本人也不能精確知道微觀原因。但宏觀也是知道一些，綜合IGBT的簡(jiǎn)介，IGBT由MOS管和PNP管復(fù)合，MOS管在前,PNP在后。當(dāng)功率管的瞬間電流越大，驅(qū)動(dòng)的保護(hù)要求就越明顯。因此也就是為什么IGBT既要驅(qū)動(dòng)而最好要負(fù)壓來達(dá)到加速關(guān)斷的效果來保證，又要過流保證等多重保證的原因。
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@pppyyy02
當(dāng)你斷掉輔電，也就是間接斷掉快速泄放回路，單純靠并聯(lián)的10K電阻回路泄放，導(dǎo)致MOS電荷不能及時(shí)泄放，而DS仍有較大電流流過，那么G相對(duì)S極有個(gè)電壓也不足為奇了。再則由于關(guān)斷的時(shí)間延長(zhǎng)，MOS管內(nèi)部多重因素的效應(yīng)最終導(dǎo)致?lián)p壞。其實(shí)把這思想用在分析IGBT也一樣，IGBT就是一個(gè)元件，制造出來本身就有其自身的特性。雖然本人也不能精確知道微觀原因。但宏觀也是知道一些，綜合IGBT的簡(jiǎn)介，IGBT由MOS管和PNP管復(fù)合，MOS管在前,PNP在后。當(dāng)功率管的瞬間電流越大，驅(qū)動(dòng)的保護(hù)要求就越明顯。因此也就是為什么IGBT既要驅(qū)動(dòng)而最好要負(fù)壓來達(dá)到加速關(guān)斷的效果來保證，又要過流保證等多重保證的原因。
可是驅(qū)動(dòng)電路不都是這樣的么？那依照你的說法，這個(gè)電路應(yīng)該如何改進(jìn)呢？
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@pppyyy02
當(dāng)你斷掉輔電，也就是間接斷掉快速泄放回路，單純靠并聯(lián)的10K電阻回路泄放，導(dǎo)致MOS電荷不能及時(shí)泄放，而DS仍有較大電流流過，那么G相對(duì)S極有個(gè)電壓也不足為奇了。再則由于關(guān)斷的時(shí)間延長(zhǎng)，MOS管內(nèi)部多重因素的效應(yīng)最終導(dǎo)致?lián)p壞。其實(shí)把這思想用在分析IGBT也一樣，IGBT就是一個(gè)元件，制造出來本身就有其自身的特性。雖然本人也不能精確知道微觀原因。但宏觀也是知道一些，綜合IGBT的簡(jiǎn)介，IGBT由MOS管和PNP管復(fù)合，MOS管在前,PNP在后。當(dāng)功率管的瞬間電流越大，驅(qū)動(dòng)的保護(hù)要求就越明顯。因此也就是為什么IGBT既要驅(qū)動(dòng)而最好要負(fù)壓來達(dá)到加速關(guān)斷的效果來保證，又要過流保證等多重保證的原因。
并且依據(jù)樓主的描述，他沒有加驅(qū)動(dòng)信號(hào)，那么按道理推挽輸出應(yīng)該都是閉合的，也就是說應(yīng)該沒有對(duì)MOS的等效電容沖過電，那這個(gè)放電又是怎么來的呢？
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@yinxiangtuo
并且依據(jù)樓主的描述，他沒有加驅(qū)動(dòng)信號(hào)，那么按道理推挽輸出應(yīng)該都是閉合的，也就是說應(yīng)該沒有對(duì)MOS的等效電容沖過電，那這個(gè)放電又是怎么來的呢？
我回答的是他搞損壞時(shí)的狀態(tài)，不是他做沒有輸入時(shí)的狀態(tài)。
而當(dāng)時(shí)他未考慮在有輸入時(shí)突斷輔電的影響，而是懷疑光耦，才有他另一次的測(cè)試。對(duì)于他另一次測(cè)試我不做解釋，并且他也沒有明確地體現(xiàn)出他另一次測(cè)試時(shí)的各種次序，條件。
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