庫侖計數(shù)的原理很簡單呀:
比如你每隔0.1秒采樣一次電流值,將電流值乘以0.1秒后得到的數(shù),加到庫侖計數(shù)寄存器上,一直這么累加,就得到容量值了,放電和充電完全一樣的道理.

謝謝,
我一直以為是前面一個積分器進(jìn)行電流積分,后面一個AD轉(zhuǎn)換進(jìn)行采集,然后再將計數(shù)不斷的累加.
可是如果是您所說的那樣,那么TI每隔2s才采集一次,不是再電量采集的時候會有很大的誤差么?總感覺這樣怪怪的.

呵呵,我也在注意TI的這個問題,按理說,每2S采集一次,根據(jù)電流的不同,差別是很大.
但我實際測過,數(shù)據(jù)其實都還比較準(zhǔn)確.不知為什么?

TI的芯片對電流的檢測時間并非每2S一次呀,它只是在電腦端軟件界面上的數(shù)據(jù)是每2S左右刷新一次.

謝謝了!
TI的datasheet對電流偵測的時間沒有明確的描述.
但對電壓和溫度是2S掃描一次.

TI的spec是說了電流/電壓值每2s更新一次的,同樣Microchip是採用一個AD每500ms進(jìn)行一個輪迴測量,而這個沒有採用專用AD進(jìn)行電流採集成了Microchip沒有辦法採集所有電流的一個把柄.
而TI究竟的結(jié)構(gòu)是怎麼楊的呢,莫非他是幾十HZ的頻率在採集?可是他在採集間隔可是進(jìn)入低功耗模式的.不明白.

在2060中選用的V-F轉(zhuǎn)換形式的AD,因此采用了保存電流大小和時間的兩個寄存器來保持放電/充電的狀態(tài),然后將兩者進(jìn)行相乘得到流過的電量,不過我沒有看到他的間隔是多少.除非是CC模式,否則很難保證不存在漏掉的問題

不知TI實現(xiàn)的具體情況是怎樣的.
我自已用單片機(jī)做的電量計量,方法是每10mS檢測一次電流值,電流用低值電阻取樣,轉(zhuǎn)換成電壓,并放大,再用RC吸收后提供給AD.如果有瞬間的大電流,RC吸收回路上可以變成相應(yīng)的電壓值,因此對計算容量而言,誤差并不會很大.

使用2084過程中,對于計量計如何實現(xiàn)也很感興趣,說一下自己的看法,以供交流.

1.首先需要建立幾張表格,剩余容量與開路電壓之間的關(guān)系,容量與放電電流之間關(guān)系,容量與溫度之間關(guān)系,內(nèi)阻與使用次數(shù)之間關(guān)系.
2.在使用中采用開路電壓來獲取剩余容量,然后進(jìn)行溫度,使用次數(shù)的修正.
3.由放電電流進(jìn)行補(bǔ)償,和內(nèi)阻運(yùn)算獲的銷耗能量大小,進(jìn)而統(tǒng)計剩余容量大小.
4.建立自放電曲線,進(jìn)行容量補(bǔ)償.

不知道TI是不是這么做的,感覺應(yīng)用本身是一個熟練性的工作,不知道內(nèi)部原理的話,永遠(yuǎn)不知道為甚么這樣

使用2084過程中,對于計量計如何實現(xiàn)也很感興趣,說一下自己的看法,以供交流.

1.首先需要建立幾張表格,剩余容量與開路電壓之間的關(guān)系,容量與放電電流之間關(guān)系,容量與溫度之間關(guān)系,內(nèi)阻與使用次數(shù)之間關(guān)系.
2.在使用中采用開路電壓來獲取剩余容量,然后進(jìn)行溫度,使用次數(shù)的修正.
3.由放電電流進(jìn)行補(bǔ)償,和內(nèi)阻運(yùn)算獲的銷耗能量大小,進(jìn)而統(tǒng)計剩余容量大小.
4.建立自放電曲線,進(jìn)行容量補(bǔ)償.

不知道TI是不是這么做的,感覺應(yīng)用本身是一個熟練性的工作,不知道內(nèi)部原理的話,永遠(yuǎn)不知道為甚么這樣

從一個實際應(yīng)用的角度出發(fā),電流突變而導(dǎo)致漏計的概率很低.