想知道他的結(jié)構(gòu)是怎么樣的,一方面要對于充電、放電分別進行統(tǒng)計,一方面要進行積分采樣.在原理上是在放電、充電中不斷的進行積分呢,還是積分一段時間然后采樣,重新進行積分.如果是后者的話,那么在釋放過程中就存在沒有辦法積分的問題.
或者說,兩個積分器,一個積分的過程中,另外一個釋放.然后判斷是充電還是放電,將總量添加到相應(yīng)的電量總量中去.
小弟最近對于bq208x的充放電原理很感興趣,還望指教一二.
謝謝
問一個庫倫計數(shù)器的問題
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@infernal
TI的spec是說了電流/電壓值每2s更新一次的,同樣Microchip是採用一個AD每500ms進行一個輪迴測量,而這個沒有採用專用AD進行電流採集成了Microchip沒有辦法採集所有電流的一個把柄.而TI究竟的結(jié)構(gòu)是怎麼楊的呢,莫非他是幾十HZ的頻率在採集?可是他在採集間隔可是進入低功耗模式的.不明白.
不知TI實現(xiàn)的具體情況是怎樣的.
我自已用單片機做的電量計量,方法是每10mS檢測一次電流值,電流用低值電阻取樣,轉(zhuǎn)換成電壓,并放大,再用RC吸收后提供給AD.如果有瞬間的大電流,RC吸收回路上可以變成相應(yīng)的電壓值,因此對計算容量而言,誤差并不會很大.
我自已用單片機做的電量計量,方法是每10mS檢測一次電流值,電流用低值電阻取樣,轉(zhuǎn)換成電壓,并放大,再用RC吸收后提供給AD.如果有瞬間的大電流,RC吸收回路上可以變成相應(yīng)的電壓值,因此對計算容量而言,誤差并不會很大.
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@azhu
不知TI實現(xiàn)的具體情況是怎樣的.我自已用單片機做的電量計量,方法是每10mS檢測一次電流值,電流用低值電阻取樣,轉(zhuǎn)換成電壓,并放大,再用RC吸收后提供給AD.如果有瞬間的大電流,RC吸收回路上可以變成相應(yīng)的電壓值,因此對計算容量而言,誤差并不會很大.
使用2084過程中,對于計量計如何實現(xiàn)也很感興趣,說一下自己的看法,以供交流.
1.首先需要建立幾張表格,剩余容量與開路電壓之間的關(guān)系,容量與放電電流之間關(guān)系,容量與溫度之間關(guān)系,內(nèi)阻與使用次數(shù)之間關(guān)系.
2.在使用中采用開路電壓來獲取剩余容量,然后進行溫度,使用次數(shù)的修正.
3.由放電電流進行補償,和內(nèi)阻運算獲的銷耗能量大小,進而統(tǒng)計剩余容量大小.
4.建立自放電曲線,進行容量補償.
不知道TI是不是這么做的,感覺應(yīng)用本身是一個熟練性的工作,不知道內(nèi)部原理的話,永遠不知道為甚么這樣
1.首先需要建立幾張表格,剩余容量與開路電壓之間的關(guān)系,容量與放電電流之間關(guān)系,容量與溫度之間關(guān)系,內(nèi)阻與使用次數(shù)之間關(guān)系.
2.在使用中采用開路電壓來獲取剩余容量,然后進行溫度,使用次數(shù)的修正.
3.由放電電流進行補償,和內(nèi)阻運算獲的銷耗能量大小,進而統(tǒng)計剩余容量大小.
4.建立自放電曲線,進行容量補償.
不知道TI是不是這么做的,感覺應(yīng)用本身是一個熟練性的工作,不知道內(nèi)部原理的話,永遠不知道為甚么這樣
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@azhu
不知TI實現(xiàn)的具體情況是怎樣的.我自已用單片機做的電量計量,方法是每10mS檢測一次電流值,電流用低值電阻取樣,轉(zhuǎn)換成電壓,并放大,再用RC吸收后提供給AD.如果有瞬間的大電流,RC吸收回路上可以變成相應(yīng)的電壓值,因此對計算容量而言,誤差并不會很大.
使用2084過程中,對于計量計如何實現(xiàn)也很感興趣,說一下自己的看法,以供交流.
1.首先需要建立幾張表格,剩余容量與開路電壓之間的關(guān)系,容量與放電電流之間關(guān)系,容量與溫度之間關(guān)系,內(nèi)阻與使用次數(shù)之間關(guān)系.
2.在使用中采用開路電壓來獲取剩余容量,然后進行溫度,使用次數(shù)的修正.
3.由放電電流進行補償,和內(nèi)阻運算獲的銷耗能量大小,進而統(tǒng)計剩余容量大小.
4.建立自放電曲線,進行容量補償.
不知道TI是不是這么做的,感覺應(yīng)用本身是一個熟練性的工作,不知道內(nèi)部原理的話,永遠不知道為甚么這樣
1.首先需要建立幾張表格,剩余容量與開路電壓之間的關(guān)系,容量與放電電流之間關(guān)系,容量與溫度之間關(guān)系,內(nèi)阻與使用次數(shù)之間關(guān)系.
2.在使用中采用開路電壓來獲取剩余容量,然后進行溫度,使用次數(shù)的修正.
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@infernal
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