【心得】降壓式DC-DC轉(zhuǎn)換器中的恒定導(dǎo)通時(shí)間谷值電流模式控制
測(cè)量流過(guò)NMOS主開(kāi)關(guān)的電感電流的典型方法是，當(dāng)NMOS主開(kāi)關(guān)導(dǎo)通時(shí)檢測(cè)NMOS主開(kāi)關(guān)上的壓降，或者檢測(cè)輸入端和主開(kāi)關(guān)的漏極之間的串聯(lián)電阻上的壓降。在這兩個(gè)檢測(cè)方案中，電感電流檢測(cè)過(guò)程中出現(xiàn)在開(kāi)關(guān)節(jié)點(diǎn)上的寄生效應(yīng)均能引發(fā)激振現(xiàn)象，因此在測(cè)量電感電流之前必須等待一段時(shí)間，即消隱時(shí)間。在低占空比操作過(guò)程中，這使得主開(kāi)關(guān)建立并保持導(dǎo)通的時(shí)間變少。
