傳統(tǒng)的教科書，無一例外都是采用delay的方法檢測按鍵，但是這種方法有很多缺陷，今天發(fā)一貼說說，各位大俠不要見笑，初級菜鳥可以借鑒。
傳統(tǒng)的處理方法:在第一次檢測到有鍵按下時(shí),執(zhí)行一段延時(shí) 10ms 的子程序以后再確認(rèn)該按鍵電平是否能保持閉合狀態(tài)的電平,如果保持閉合狀態(tài)電平,則確認(rèn)為真正有鍵按下,從而消除抖動的影響.
缺點(diǎn)：
1. 傳統(tǒng)的處理方法執(zhí)行 10ms 的延時(shí)子程序,會降低程序的實(shí)時(shí)性。
2. 傳統(tǒng)的處理方法一次按鍵動作的確認(rèn),只檢測兩次,在高抗干擾環(huán)境下的會有按鍵的誤動作。
建議：
1. 建議彈跳時(shí)間為 100ms 才可有效通過 EFT 雜訊認(rèn)證。
2. 建議主程序中連續(xù)檢查 100ms 的穩(wěn)定低電平才可認(rèn)定按鍵按下成立。
3. 相同道理連續(xù)檢查 100ms 高電平才可認(rèn)定按鍵彈起。
4. 為了保證 MCU 的執(zhí)行效率，按鍵的檢測盡量不要使用 Delay 的方式，可以考慮采用輪詢檢測和計(jì)時(shí)器配合的方式進(jìn)行。
方法如下：
在發(fā)現(xiàn)低電平后，我們每一個(gè)循環(huán)（時(shí)基）去讀取一次電平，并與上次進(jìn)行比較，若是相同則計(jì)數(shù)器加 1，直至達(dá)到足夠的次數(shù)就進(jìn)行處理，否則計(jì)數(shù)器清零，重新開始。
打破教科書上的按鍵檢測方法
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