耐壓試驗(yàn)引起的DSP損壞
產(chǎn)品DSP芯片設(shè)計(jì)時(shí)與輸出不隔離,打耐壓2KVAC時(shí),耐壓試驗(yàn)通過,但是發(fā)現(xiàn)100臺(tái)出現(xiàn)10臺(tái)DSP的I/O口損壞。絕緣間距留得的確有點(diǎn)吃緊普遍3mm,請(qǐng)各位賞臉發(fā)表下自己的見解。
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