如標(biāo)題所示:
一、第一個(gè)原理圖為普通的降壓模式,輸入180-265VAC,輸出為72V 580mA.故障體現(xiàn)為大批量有2%的產(chǎn)品會(huì)出現(xiàn)MOS( Q1-10N65代大散熱器)/IC U1/整流橋( BD1-3A800V)/續(xù)流二極管(D4-5A600V)/保險(xiǎn)(3.15A 250V)損壞及炸毀。經(jīng)多次抽取數(shù)量達(dá)到100PCS的電源裝成整機(jī)測(cè)試,驗(yàn)證故障體現(xiàn)完全一樣比例概率就是2%。其它全部長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試正常,抽取個(gè)別電源經(jīng)高溫80度烤箱破壞性測(cè)試也依然是正常的。
二、第二個(gè)原理圖是一份升降壓的設(shè)計(jì)架構(gòu),有意思的是這個(gè)產(chǎn)品在研發(fā)出貨至今已經(jīng)有將近3年的時(shí)間,累計(jì)出貨的數(shù)量超過(guò)30萬(wàn)只。突然接到客戶(hù)的通知后我們新送的產(chǎn)品出現(xiàn)了高溫檢測(cè)時(shí)損壞,經(jīng)查看D5已經(jīng)完全燒毀,燒成如碳一般,詢(xún)問(wèn)得知比例大概是抽取了3個(gè)有一個(gè)損壞,另外兩個(gè)正常,經(jīng)溝通后希望在抽取一次,客戶(hù)允許重新再抽3PCS做高溫老化測(cè)試,測(cè)試后得知結(jié)果完全一樣。此時(shí)我們意識(shí)到肯定是在某個(gè)位置出現(xiàn)了問(wèn)題。
以上兩個(gè)問(wèn)題是我近期遇到的,各位工程師朋友可以充分的根據(jù)理論及實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)判斷問(wèn)題的根源,在一定的時(shí)候我會(huì)告知大家問(wèn)題在哪,如何解決的,也給大家分享一下經(jīng)驗(yàn)避免出現(xiàn)類(lèi)似的情況,一個(gè)人在路上被絆倒了,我們分享出來(lái)希望 大家警惕。