器件特性仿真的結(jié)果怎么和datasheet上的特性比較
我用pspice仿真IR公司的功率MOSFET器件IRL530的特性,仿真得到的輸出特性、轉(zhuǎn)移特性曲線怎么和datasheet上的特性曲線比較,我下載到的datasheet都是pdf文件,這個(gè)怎么比較啊,datasheet上也沒(méi)有詳細(xì)的特性數(shù)據(jù),只有曲線而已.看到有文獻(xiàn)說(shuō)自己仿真的特性曲線和datasheet上的曲線吻合得很好,不知道是怎么比較的?謝謝指教.
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其規(guī)格里有相關(guān)的曲線啊 51471181262842.pdf
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@雪山無(wú)痕
和規(guī)格設(shè)置一樣的參數(shù)的仿真出來(lái)的曲線可以比較
下載您提供的datasheet,看過(guò)了,和我下載的IR公司的IRL530的datasheet差不多.我還是不明白,比如我用PSPICE直接仿真器件的輸出特性或者轉(zhuǎn)移特性,得到的結(jié)果曲線,去和datasheet上提供的參考特性曲線相比較,是否只能比較大致的形狀是否一致,具體的精確數(shù)據(jù)點(diǎn)是無(wú)法比較的,因?yàn)閺膁atasheet上我們只能用肉眼看數(shù)據(jù),肯定是不準(zhǔn)確的吧.我老是看見(jiàn)有文獻(xiàn)里面說(shuō)仿真結(jié)果和datasheet里面的曲線吻合得很好,總是不理解,他們是怎么比較的呢?
還請(qǐng)多指教!
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@zhdzhao
下載您提供的datasheet,看過(guò)了,和我下載的IR公司的IRL530的datasheet差不多.我還是不明白,比如我用PSPICE直接仿真器件的輸出特性或者轉(zhuǎn)移特性,得到的結(jié)果曲線,去和datasheet上提供的參考特性曲線相比較,是否只能比較大致的形狀是否一致,具體的精確數(shù)據(jù)點(diǎn)是無(wú)法比較的,因?yàn)閺膁atasheet上我們只能用肉眼看數(shù)據(jù),肯定是不準(zhǔn)確的吧.我老是看見(jiàn)有文獻(xiàn)里面說(shuō)仿真結(jié)果和datasheet里面的曲線吻合得很好,總是不理解,他們是怎么比較的呢?還請(qǐng)多指教!
大致走向一致就好了,精確的應(yīng)該做不到了,仿真軟件和實(shí)際測(cè)試波形還是有差別的,只能看個(gè)大概,很精確的沒(méi)有對(duì)比過(guò).
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@雪山無(wú)痕
大致走向一致就好了,精確的應(yīng)該做不到了,仿真軟件和實(shí)際測(cè)試波形還是有差別的,只能看個(gè)大概,很精確的沒(méi)有對(duì)比過(guò).
做到大致形狀一樣還是容易的,但比如開(kāi)關(guān)瞬態(tài)的波形中有些指標(biāo),上升時(shí)間、下降時(shí)間什么的,還是需要精確比較的.我即使不和datasheet里面的曲線比較,但還是需要把仿真結(jié)果和實(shí)驗(yàn)結(jié)果(電路測(cè)試)相比較的,否則仿真就沒(méi)有意義了.這兩者之間的比較又該如何進(jìn)行呢?實(shí)在沒(méi)有弄過(guò),盼指教
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