問題一: 就是在測試MOS管的耐沖擊電流的是候,給個脈沖,然后用負載機帶電流去沖擊,脈沖分幾個擋位,比如10ms沖擊一次,就發(fā)現(xiàn)個問題,在關斷的時候在DS之間會有很高的尖峰,沖擊電流越大,這個電壓越高,特別是超過100A的時候,超過MOS管的耐壓,繼續(xù)下去就會燒掉,在DS端加電容,反而沒有這個問題
問題二:在問題一的基礎上DS間加電容,測試兩種差不多的MOS管,發(fā)現(xiàn)MOS里面芯片大的反而沖擊電流小,這是為什么,兩種級別差不多的MOS,里面的芯片DIE大的反而沖擊電流?。?,這是什么原因,耐沖擊電流與MOS管的DIE大小有關系嗎