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關于NMOSFET的測試問題

最近在測試NMOSFET的時候,發(fā)現(xiàn)一個問題,求大神解答,具體問題如下

       

      問題一: 就是在測試MOS管的耐沖擊電流的是候,給個脈沖,然后用負載機帶電流去沖擊,脈沖分幾個擋位,比如10ms沖擊一次,就發(fā)現(xiàn)個問題,在關斷的時候在DS之間會有很高的尖峰,沖擊電流越大,這個電壓越高,特別是超過100A的時候,超過MOS管的耐壓,繼續(xù)下去就會燒掉,在DS端加電容,反而沒有這個問題 

       問題二:在問題一的基礎上DS間加電容,測試兩種差不多的MOS管,發(fā)現(xiàn)MOS里面芯片大的反而沖擊電流小,這是為什么,兩種級別差不多的MOS,里面的芯片DIE大的反而沖擊電流?。?,這是什么原因,耐沖擊電流與MOS管的DIE大小有關系嗎

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小學渣
LV.5
2
2018-01-19 10:47

問題一:沖擊電流越大,MOSFET寄生電感產(chǎn)生的尖峰電壓越大。在DS間加上高壓小電容有利于吸收這個電壓尖峰。

問題二:沒看明白你的意思。

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六月s
LV.2
3
2018-01-19 10:49
@小學渣
問題一:沖擊電流越大,MOSFET寄生電感產(chǎn)生的尖峰電壓越大。在DS間加上高壓小電容有利于吸收這個電壓尖峰。問題二:沒看明白你的意思。
就是將MOS管剪開,里面的芯片有大有小,這個大小與沖擊電流有關嗎,大的沖擊電路要大?
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小學渣
LV.5
4
2018-01-19 10:54
@六月s
就是將MOS管剪開,里面的芯片有大有小,這個大小與沖擊電流有關嗎,大的沖擊電路要大?
這個應該與散熱有關。大塊的能承受相對大的沖擊電流所產(chǎn)生的熱量。
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六月s
LV.2
5
2018-01-19 11:24
@小學渣
這個應該與散熱有關。大塊的能承受相對大的沖擊電流所產(chǎn)生的熱量。
但是大的沖擊電流小
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