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IGBT有哪些參數(shù)需要測試

(1)柵極-發(fā)射極閾值電壓VGE(TO)測試:由電壓源對被測器件施加規(guī)定的集電極-發(fā)射極電壓;從零開始逐漸增加柵極-發(fā)射極間的電壓,當檢測到集電極電流達到規(guī)定值時,此時的柵極電壓值即為柵極-發(fā)射極閾值電壓。

  (2)柵極-發(fā)射極漏電流IGES測試:

  集電極-發(fā)射極間短路;由電壓源對被測器件施加規(guī)定的柵極-發(fā)射極電壓,這時通過柵極

-發(fā)射極回路的電流即為柵極-發(fā)射極漏電流。

  (3)集電極-發(fā)射極截止電流ICES測試:柵極-發(fā)射極短路;由電壓源對被測器件施加規(guī)定的集電極-發(fā)射極電壓,這時通過集電極-發(fā)射極回路的電流即為集電極-發(fā)射極截止電流。

  (4)集電極-發(fā)射極飽和電壓VCE(sat)測試:由電壓源對被測器件施加規(guī)定幅值和脈寬的柵極電壓;調節(jié)集電極-發(fā)射極電流至規(guī)定值,這時相對柵極脈沖穩(wěn)定部分的集電極-發(fā)射極電壓即為集電極-發(fā)射極飽和電壓值。

  (5)開通時間ton測試:由電壓源對被測器件施加規(guī)定幅值、脈寬及上升率的柵極電壓;調節(jié)集電極電流至規(guī)定幅值,開通時間是指開通延遲時間與集電極電流上升時間之和。

  (6)關斷時間toff測試:關斷時間測試包含阻性負載和感性負載的測試。在相應的阻性負載或感性負載條件下,對被測器件施加規(guī)定幅值和脈寬的柵極電壓;調節(jié)集電極電流至規(guī)定值,然后施加規(guī)定幅值、脈寬及下降率的反向柵極電壓,關斷時間是指關斷延遲時間與電流下降時間之和。

  (7)恢復時間測試:用于測量IGBT上反向續(xù)流二極管的恢復時間。首先在二極管上施加規(guī)定幅值的電流,經(jīng)過一定時間后施加一個反向電流使其關斷,同時施加規(guī)定幅值的反向電壓。

 

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82303344
LV.1
2
2010-11-25 22:42
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2010-12-10 13:17
@82303344
各種元器件封裝形式大全,值得收藏,絕對好資料,見下面鏈接:http://hi.baidu.com/82303388/blog/item/2443c1def13a165894ee37b0.html

 

 

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