目前市場(chǎng)上常用的突波吸收、浪涌消除器件主要是氧化鋅體系的多層片式壓敏電阻器（MLCV）。MLCV在使用過程中常出現(xiàn)漏電流過大致電路失效。尤其在有一定溫升應(yīng)用場(chǎng)合下，失效率非常高，帶來嚴(yán)重的損失。

一般地，不良的MLCV來料檢驗(yàn)時(shí)，各項(xiàng)常規(guī)電性能均合格，但上板后就會(huì)出現(xiàn)漏電流上升的情況，如加溫煲機(jī)失效率將不斷上升，甚至最終全部失效。許多電子電路工程不理解，亦不會(huì)浪費(fèi)太多的時(shí)間作分析，而供應(yīng)商一般不會(huì)給出具體詳細(xì)的原因分析報(bào)告。

元件使用時(shí)焊接不良、環(huán)境負(fù)荷超出額定條件和元件制造不良均會(huì)出現(xiàn)上述后果。其中元件制造不良引起的后果往往是最嚴(yán)重最難厘清關(guān)系的。

其實(shí)，就標(biāo)準(zhǔn)角度而言，很簡(jiǎn)單，就是元件不符合高溫負(fù)荷壽命標(biāo)準(zhǔn)要求。各類元器件技術(shù)規(guī)格書都有一項(xiàng)“壽命”列出，即產(chǎn)品出廠時(shí)應(yīng)符合該技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。舉個(gè)例子說明一下：

MLCV   1206   12V    制造商出貨前應(yīng)按以下試驗(yàn)規(guī)程：

   隨機(jī)抽樣100~200PCS----上引線260deg.C焊接----常規(guī)電性能測(cè)試記錄---上試驗(yàn)板---入試驗(yàn)箱---加溫至125deg.c----加負(fù)荷電壓12V---100hrs在線監(jiān)測(cè)---出箱靜置---電性能測(cè)試記錄

通過以上規(guī)程，試驗(yàn)品應(yīng)零失效。

MLCV介質(zhì)有半導(dǎo)體屬性，應(yīng)尤其注意壽命性能檢測(cè)確認(rèn)。某些品牌規(guī)格產(chǎn)品因研發(fā)制造過程管控不嚴(yán)格，壽命可能不良品會(huì)因此流通到模塊用戶，而一般地模塊集成用戶因試驗(yàn)條件所限，只檢測(cè)常規(guī)電性能，故會(huì)出現(xiàn)前面所述問題。