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突波吸收器(壓敏電阻)失效分析

目前市場上常用的突波吸收、浪涌消除器件主要是氧化鋅體系的多層片式壓敏電阻器(MLCV)。MLCV在使用過程中常出現(xiàn)漏電流過大致電路失效。尤其在有一定溫升應用場合下,失效率非常高,帶來嚴重的損失。

一般地,不良的MLCV來料檢驗時,各項常規(guī)電性能均合格,但上板后就會出現(xiàn)漏電流上升的情況,如加溫煲機失效率將不斷上升,甚至最終全部失效。許多電子電路工程不理解,亦不會浪費太多的時間作分析,而供應商一般不會給出具體詳細的原因分析報告。

元件使用時焊接不良、環(huán)境負荷超出額定條件和元件制造不良均會出現(xiàn)上述后果。其中元件制造不良引起的后果往往是最嚴重最難厘清關系的。

其實,就標準角度而言,很簡單,就是元件不符合高溫負荷壽命標準要求。各類元器件技術規(guī)格書都有一項“壽命”列出,即產(chǎn)品出廠時應符合該技術標準。舉個例子說明一下:

MLCV   1206   12V    制造商出貨前應按以下試驗規(guī)程:

   隨機抽樣100~200PCS----上引線260deg.C焊接----常規(guī)電性能測試記錄---上試驗板---入試驗箱---加溫至125deg.c----加負荷電壓12V---100hrs在線監(jiān)測---出箱靜置---電性能測試記錄

通過以上規(guī)程,試驗品應零失效。

MLCV介質(zhì)有半導體屬性,應尤其注意壽命性能檢測確認。某些品牌規(guī)格產(chǎn)品因研發(fā)制造過程管控不嚴格,壽命可能不良品會因此流通到模塊用戶,而一般地模塊集成用戶因試驗條件所限,只檢測常規(guī)電性能,故會出現(xiàn)前面所述問題。

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hk2007
LV.8
2
2011-04-04 12:55
學習了,看來失效原因還是高溫下漏電流所致。
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jmsanjv
LV.3
3
2011-04-04 22:55
@hk2007
學習了,看來失效原因還是高溫下漏電流所致。

良好的設計、材料及工藝制造生產(chǎn)出來的氧化鋅系多層片式壓敏電阻(MLCV),-55~+125deg.c溫度范圍內(nèi),其漏電流變化是很小的,且很低小于1uA。而不良的設計、材料及工藝制造生產(chǎn)出來的MLCV,常溫下漏電流即使較低,但當工作溫度大于>60deg.c時,漏電流會急劇增大幾十倍,很快就會擊穿失效?! ⊥ㄟ^測量高溫漏電流,可以初步甑別MLCV的優(yōu)劣。

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2011-04-05 10:28
好人jmsanjv
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jmsanjv
LV.3
5
2011-04-05 14:19
@螞蟻電源
好人jmsanjv

技術上,知無不言!

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jmsanjv
LV.3
6
2011-04-05 14:23
@螞蟻電源
好人jmsanjv
謝謝旅長表揚?。。?!
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