這種一般是繞線的原因啊.

個(gè)人觀點(diǎn)
1:氣隙裝在上下不同位置測(cè)試不同.
2:儀器可能有引線誤差.
3:校樣樣機(jī)有問(wèn)題.

做幾個(gè)多圈少圈不良品進(jìn)行比對(duì),定出它的范圍.

做過(guò)幾次但是都不理想,客戶(hù)需求量挺大的很頭疼!

用不良品解剖匝數(shù)無(wú)問(wèn)題?如果是綜合測(cè)試,校樣的樣機(jī)要選好!

我們也遇到同樣的測(cè)試問(wèn)題,不過(guò)可歸納為以下幾個(gè)方面的問(wèn)題:

1.如果是有GAP的產(chǎn)品,完成所有的工序后再來(lái)測(cè)圈數(shù),基本上是測(cè)不準(zhǔn)的,經(jīng)常產(chǎn)生誤判.我們?cè)囘^(guò)用兩個(gè)沒(méi)磨過(guò)的鐵芯裝進(jìn)去測(cè)試,能準(zhǔn)確的篩選出圈數(shù)壞的產(chǎn)品,所以我們的方法就是增加個(gè)初測(cè)位,用兩個(gè)未磨制的鐵芯測(cè)試圈數(shù),成品測(cè)試時(shí)就不用再測(cè)試圈數(shù)了,因?yàn)楹罄m(xù)的 工序不會(huì)對(duì)圈數(shù)產(chǎn)生影響.

2.對(duì)于一些低u的磁環(huán),繞好線后,也很難準(zhǔn)確測(cè)試圈數(shù)的.基本上到現(xiàn)在還沒(méi)找到好的方法.只好加強(qiáng)前工序的控制如繞線的均勻度控制,繞線角度的控制等. 希望有好方法的朋友共享經(jīng)驗(yàn),謝謝!