最近看某芯片商在網(wǎng)上很多宣傳，如下：

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新標準（歐盟CFL規(guī)范2013 stage5）還將CFL燈具的開關(guān)次數(shù)大幅提高了3倍，從2009年的1萬次到2013年的3萬次。一旦CFL燈具的開關(guān)次數(shù)達到規(guī)定的數(shù)字，其燈絲就會變黑，這燈具就不能用了。提高燈絲開關(guān)次數(shù)壽命的方法是每次打開開關(guān)前先預(yù)熱燈絲，但這方法只有采用基于IC的驅(qū)動方案才能實現(xiàn)，現(xiàn)有的基于分立元件的驅(qū)動方案是做不到這點的。  

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從他們的宣傳上看，似乎到了2013年，做出口的等非要用芯片方案不可，但壇子里也看到的分立器件能做到的開關(guān)壽命大于20000次的，為進一步探討，索性帖出歐盟stage 5性能要求大家看看。

可以對新規(guī)范做以下解讀：

1、合格率提升；（6000小時失效從50%提升到70%）

2、光衰要求增加；

3、開關(guān)壽命延長；（增到大于小時壽命的次數(shù)或者3w次）

4、啟動時間縮短；

5、早期失效減少；

6、功率因數(shù)提高