幫助,
問題是這樣的,
1.在低溫下,有的機(jī)子時好時壞,
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這么成熟的芯片及線路,檢討一下生產(chǎn)工藝吧。
你可以試驗一下,把覺得時好時壞的機(jī)上的TEA1751卸下來,用電烙鐵焊一個新的TEA1751上去,在測試,應(yīng)該就不會出現(xiàn)這個問題。
具體你問什么原因?主要是生產(chǎn)工藝的問題,特別是波峰焊的溫度及天氣濕度的原因,在過波峰焊之前沒有做足夠合適的烘干后上到高溫的波峰焊(時間),導(dǎo)致芯片及PCB有濕度,在波峰焊遇高溫后氣化,芯片內(nèi)部出現(xiàn)細(xì)微的破壞,導(dǎo)致漏電流變大,無法達(dá)到啟動電壓,IC內(nèi)部分析為給VCC加電進(jìn)行激光照相分析就發(fā)現(xiàn)芯片出現(xiàn)創(chuàng)傷(及漏電),低溫漏電流比正常更大,所以更容易看出來。
一般中小公司出現(xiàn)這種情況的比較多。
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@chinacompower
這么成熟的芯片及線路,檢討一下生產(chǎn)工藝吧。你可以試驗一下,把覺得時好時壞的機(jī)上的TEA1751卸下來,用電烙鐵焊一個新的TEA1751上去,在測試,應(yīng)該就不會出現(xiàn)這個問題。具體你問什么原因?主要是生產(chǎn)工藝的問題,特別是波峰焊的溫度及天氣濕度的原因,在過波峰焊之前沒有做足夠合適的烘干后上到高溫的波峰焊(時間),導(dǎo)致芯片及PCB有濕度,在波峰焊遇高溫后氣化,芯片內(nèi)部出現(xiàn)細(xì)微的破壞,導(dǎo)致漏電流變大,無法達(dá)到啟動電壓,IC內(nèi)部分析為給VCC加電進(jìn)行激光照相分析就發(fā)現(xiàn)芯片出現(xiàn)創(chuàng)傷(及漏電),低溫漏電流比正常更大,所以更容易看出來。一般中小公司出現(xiàn)這種情況的比較多。
您的意思是1751壞了?
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@pads2007layout
您的意思是1751壞了?
應(yīng)該也算吧。
標(biāo)準(zhǔn)的PCB及芯片內(nèi)都有是使用密閉而且?guī)Х莱眲┑姆庋b包裝。
在經(jīng)過波峰焊以前與空氣的濕度一致,260度高溫整體汽化,破壞芯片是很容易的。
有些破壞只是反饋無法啟動,更致命的另外一個破壞是導(dǎo)致芯片的有些功能丟失,但還是正常工作,出貨到用戶那邊,燒毀后端設(shè)備,風(fēng)險更大。
歐美芯片一般是前一種破壞,大多數(shù)國內(nèi)芯片一般都是后一種破壞。
如果有機(jī)會,可以去看看主機(jī)板的生產(chǎn)流程工藝,有些指導(dǎo)作用。
不過注意上面我說的不一定是全對,只能通過你的描述分析而已。
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樓主你好:能否把你的PCB發(fā)份給我共享下?wyh-nh@163.com 謝謝
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