安規(guī)測試時輸出電容損壞分析.
我公司有一款adapter產(chǎn)品在申請ul安規(guī)時,安規(guī)測試工程師說在破壞性測試時輸出整流的二極管短路輸出電容炸壞,並且power的溫升很高,請教各位安規(guī)高手,在ul安規(guī)認(rèn)證中有此項的測試要求嗎,如何可以避開此項測試或者是好的解決方法,謝謝!
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@ming-power
請問是怎樣的一個並法,在那個位置並比較好
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@黑的眼
[圖片]500){this.resized=true;this.width=500;this.alt='這是一張縮略圖，點擊可放大。\n按住CTRL，滾動鼠標(biāo)滾輪可自由縮放';this.style.cursor='hand'}"onclick="if(!this.resized){returntrue;}else{window.open('http://u.dianyuan.com/bbs/u/41/1148732146.jpg');}"onmousewheel="returnimgzoom(this);">
謝謝的你,我再去試一下.
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