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光耦的重要參數(shù)-共模抑制

共模抑制能力“CMR”,英文為Common Mode Rejection ,由于驅(qū)動器另一側(cè)(副邊)是高壓并且存在不斷的開關(guān)動作,那么它就和低壓側(cè)(原邊)構(gòu)成共模信號路徑,主要是高低壓兩側(cè)的寄生電容構(gòu)成的位移電流路徑,所以必須強調(diào)光耦要滿足一定的抗共模電壓能力,否則信號傳輸會出現(xiàn)錯誤。

如下是來自安華高的光耦HCNW2611的共模抑制參數(shù),參數(shù)說明是,在共模電壓VCM=1kV情況下,共模抑制能力可以達到15kV/us,這個值是電壓的變化率dv/dt,我們在測試雙脈沖測試時,高壓側(cè)的電壓變化率測試是必不可少的測試項,而通過這個參數(shù)我們也能進一步評估驅(qū)動的可靠性指標(biāo)。

< HCNW2611共 模 電 壓 參 數(shù) >

CMH是共模電壓的最大允許上升率“+dv/dt”,以確保輸出保持在高邏輯狀態(tài)。

CML是共模電壓的最大允許下降率“-dv/dt”,以確保輸出保持在低邏輯狀態(tài)。

以下是HCNW2211和HCNW2611對共模電壓的測試原理圖,圖中使用脈沖發(fā)生器模擬模擬電壓進行測試。

< 光 耦 共 模 瞬 態(tài) 抗 擾 度 測 試 電 路 及 典 型 波 形 >

以下是依然是來自安華高的數(shù)據(jù),可以看出各個型號的光耦具有的共模電壓承受值。

< 光 耦 共 模 瞬 態(tài) 抗 擾 度 舉 例 >

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