kevin-wang：
你所說的電子設(shè)備在正常工作狀態(tài)下,金屬外殼對地所形成的漏電流,稱為對地動態(tài)泄漏電流.產(chǎn)生原因主要是Y電容的存在.如果需要對此進行測試,則需要根據(jù)產(chǎn)品的不同,而選擇不同的人體等效電路來加入金屬外殼和地之間進行測試.例如IT資訊類產(chǎn)品,則按照IEC60950標準;如果是醫(yī)療類的產(chǎn)品,則需要按照IEC60601標準等.根據(jù)待測產(chǎn)品的不同,泄漏電流的上限設(shè)置也不同.醫(yī)療類產(chǎn)品就要比資訊類產(chǎn)品的測試嚴格很多.