tome：
本人從事開(kāi)關(guān)電源測(cè)試有7年了,用過(guò)多種測(cè)試系統(tǒng),關(guān)于電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試Ripple/Noise提幾點(diǎn)小建議,僅供參考: 做ATE的公司有很多,有美國(guó)的NHR、AUTOTEST,芬蘭的SCHAFFNRSYSTEM,臺(tái)灣的CHROMA、博計(jì)、華儀,日本的電計(jì)及一些大陸的公司或者自己用VB語(yǔ)言編輯的測(cè)試系統(tǒng)等等,不管他是用通道測(cè)量卡的還是用TEK示波器的,假如放在生產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試,和實(shí)驗(yàn)室測(cè)試結(jié)果不可能是完全相同的,有幾個(gè)方面: 1).產(chǎn)品本身的抗干擾能力:在生產(chǎn)線(xiàn)上,有來(lái)自多方面的干擾,如旁邊其它儀器的干擾、流水線(xiàn)馬達(dá)的干擾、ATE內(nèi)部ACSource的干擾等等很多方面的干擾源,雖然在Sense端加了一個(gè)104(無(wú)極性)和106(有極性)鉭電容,也不能完全抑制,不像在實(shí)驗(yàn)室里面也許有EMI屏蔽罩. 2).接線(xiàn)的方法,在實(shí)驗(yàn)室里面測(cè)試時(shí)接線(xiàn)很短,但生產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試時(shí)因考慮生產(chǎn)的便利性,可能接線(xiàn)要長(zhǎng)很多和ATE內(nèi)部通道的接線(xiàn),加在一起就長(zhǎng)了很多,不管把Sense的正負(fù)端扭絞在一起,還是有很大的差別的,不過(guò)和實(shí)驗(yàn)室相比較相差+/-10mV是可以接受的,可以采用offset方法抵補(bǔ). ATE測(cè)試系統(tǒng)來(lái)說(shuō),測(cè)量Ripple/Noise采用示波器測(cè)量還是要比采用通道卡測(cè)量的要準(zhǔn)確一點(diǎn);系統(tǒng)做得比較好一點(diǎn)的如NHR、CHROMA及SCHAFFNRSYSTEM,其它的測(cè)試系統(tǒng)不敢恭維!