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車充高壓測(cè)試燒毀芯片問題

電源測(cè)試方法

如圖，正常測(cè)試，輸入電源通過紅線和地接在一起，負(fù)載儀直接接到VOUT+和VOUT-之間，Rsen是采樣電阻，24V觸碰上電正常；

現(xiàn)在客戶為了測(cè)試方便，直接把輸入電源的地和負(fù)載的地接到一起，同時(shí)接到VOUT-，24V觸碰上電，每次觸碰幾次就把芯片給燒壞了，這個(gè)有可能是什么原因？？

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2018-07-17 20:16

這樣接是錯(cuò)誤的；

芯片的GND和輸入電源的地都不接一起了，不燒才怪。

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chdbybc
LV.4
3
2018-07-17 20:17
聽課。
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2018-07-18 11:26
@154600
這樣接是錯(cuò)誤的；芯片的GND和輸入電源的地都不接一起了，不燒才怪。
但是客戶就要這么測(cè)，測(cè)試架做起來(lái)很方便，咋搞？
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jlh213
LV.6
5
2018-07-18 17:53
這樣接是不是相當(dāng)于把Ics的電流感應(yīng)電阻短路了呢？要是話，不損壞才怪！
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houran77
LV.6
6
2018-07-19 23:40

他唯一的過載保護(hù)功能被你去掉了，還指望他不壞！

只能呵呵了，，，不表態(tài)！

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