下面是PI一款Boost電路，有一項重要的可靠性測試就是評估開關(guān)管的電壓應(yīng)力，從手冊資料看這里的VDS電壓尖峰并不是很大，開關(guān)器件集成到芯片內(nèi)部后一些寄生參數(shù)可以得到優(yōu)化，同時開關(guān)管選型參數(shù)也是優(yōu)化的。
但在一些自己的設(shè)計中Layout原因或器件選型原因都會造成開關(guān)管應(yīng)力超標(biāo)。
電壓尖峰的成因：
1） 電壓尖峰是電感續(xù)流引起的。
2）引起電壓尖峰的電感可能是：變壓器漏感、線路分布電感、器件等效模型中的感性成分等。
3） 引起電壓尖峰的電流可能是：拓?fù)潆娏?、二極管反向恢復(fù)電流、不恰當(dāng)?shù)闹C振電流等。
減少電壓尖峰的主要措施是：
1）減少可能引起電壓尖峰的電感，比如漏感、布線電感等
2）減少可能引起電壓尖峰的電流，比如二極管反向恢復(fù)電流等
3）增加緩沖電路。
在沖擊電流尖峰的路徑上串入某種類型的電感，以下是幾種使用的緩沖電路。
