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功率半導(dǎo)體的米勒平臺(tái)

功率半導(dǎo)體中的米勒平臺(tái)(Miller Platform)是指在MOSFET(金屬-氧化物-半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)的柵極驅(qū)動(dòng)過程中,柵極電壓(Vgs)在達(dá)到一定值后,即使柵極電荷繼續(xù)增加,Vgs也保持不變的一個(gè)階段。這個(gè)現(xiàn)象是由米勒效應(yīng)(Miller Effect)引起的,米勒效應(yīng)是指在MOSFET的柵源極(Cgs)和柵漏極(Cgd)之間的寄生電容在反相放大作用下,使得等效輸入電容值放大的效應(yīng)。

米勒平臺(tái)的形成原因:

柵極充電過程:在MOSFET的開啟過程中,柵極電壓Vgs開始上升,隨著柵極電荷的增加,Vgs也隨之增加。當(dāng)Vgs增加到米勒平臺(tái)電壓Vp時(shí),即使柵極電荷繼續(xù)增加,Vgs也保持不變,因?yàn)樵黾拥臇艠O電荷被用來給Cgd電容進(jìn)行充電。

米勒電容的作用:米勒電容(Cgd)在MOSFET導(dǎo)通時(shí),將柵極充電電流吸收到漏極,造成Cgs充電減小,形成電壓平臺(tái)。

柵極電壓變化:在米勒平臺(tái)期間,Vds開始下降,米勒平臺(tái)的持續(xù)時(shí)間即為Vds電壓從最大值下降到最小值的時(shí)間。米勒平臺(tái)時(shí)間與電容Cgd大小成正比。

改善對(duì)策:

選擇合適的門極驅(qū)動(dòng)電阻RG:通過選擇合適的門極驅(qū)動(dòng)電阻,可以減少米勒效應(yīng)的影響。

在門極G和射極E之間增加電容:增加電容可以延長(zhǎng)米勒平臺(tái)時(shí)間,達(dá)到電壓緩啟動(dòng)的目的。

采用負(fù)壓驅(qū)動(dòng):負(fù)壓驅(qū)動(dòng)可以減少米勒效應(yīng)的影響。

門極有源鉗位:通過門極有源鉗位技術(shù),可以抑制電壓尖峰,減少米勒效應(yīng)的影響。

全部回復(fù)(6)
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XHH9062
LV.9
2
01-11 20:17

米勒平臺(tái)如何消除

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沈夜
LV.8
3
01-12 23:22

如何有效降低米勒效應(yīng)的影響以優(yōu)化MOSFET性能?

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htwdb
LV.7
4
01-16 13:42

負(fù)壓驅(qū)動(dòng)涉及在電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路中,由于功率管的寄生電感和電容在開關(guān)過程中的電荷積累和釋放,導(dǎo)致電壓的瞬時(shí)變化,從而產(chǎn)生負(fù)壓

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tanb006
LV.10
5
01-19 17:13

負(fù)壓驅(qū)動(dòng)跟彌勒平臺(tái)有啥關(guān)系?都負(fù)壓了,MOS都驅(qū)動(dòng)不了,彌勒平臺(tái)都不可能出現(xiàn)。

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only one
LV.8
6
01-21 00:06

在MOSFET的開啟過程中,柵極電壓Vgs開始上升,隨著柵極電荷的增加,Vgs也隨之增加。當(dāng)Vgs增加到米勒平臺(tái)電壓Vp時(shí),即使柵極電荷繼續(xù)增加,Vgs也保持不變,因?yàn)樵黾拥臇艠O電荷被用來給Cgd電容進(jìn)行充電充電速度有要求嗎?

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fzwwj95
LV.5
7
03-29 02:30

實(shí)際應(yīng)用中,負(fù)壓驅(qū)動(dòng)雖然能削弱米勒效應(yīng),但負(fù)壓過大是否會(huì)導(dǎo)致MOSFET無法正常導(dǎo)通?這時(shí)候米勒平臺(tái)會(huì)完全消失嗎?如果是,該如何平衡負(fù)壓的強(qiáng)度與驅(qū)動(dòng)的可靠性

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