在高頻電路設(shè)計(jì)中，半導(dǎo)體器件的寄生參數(shù)往往比靜態(tài)指標(biāo)更為關(guān)鍵。高壓二極管或開(kāi)關(guān)二極管在 datasheet 中，通常會(huì)標(biāo)注一個(gè) 結(jié)電容（Cj） 參數(shù)。很多客戶(hù)在初期選型時(shí)容易忽略它，只關(guān)注耐壓、正向電流和反向恢復(fù)時(shí)間。但在實(shí)際的高頻應(yīng)用中，結(jié)電容卻可能直接決定電路的速度和信號(hào)完整性。MDD辰達(dá)半導(dǎo)體 在本文將結(jié)合物理機(jī)理和應(yīng)用案例，從 FAE 角度進(jìn)行分析。

一、結(jié)電容的本質(zhì)結(jié)電容來(lái)源于二極管 PN 結(jié)的耗盡層。當(dāng)二極管處于反向偏置時(shí)，PN 結(jié)相當(dāng)于一個(gè)電容器，其電容值與偏置電壓、摻雜濃度和結(jié)面積相關(guān)。公式大致為：Cj ≈ ε × A / W其中，A 為結(jié)面積，W 為耗盡層寬度。電壓越高，耗盡層越寬，電容越小。因此，結(jié)電容通常是一個(gè)與電壓相關(guān)的非線(xiàn)性參數(shù)。

二、結(jié)電容對(duì)高頻電路速度的影響限制開(kāi)關(guān)速度在高頻電源或脈沖電路中，器件需要快速?gòu)膶?dǎo)通切換到截止。此時(shí)結(jié)電容必須充放電，每一次切換都會(huì)消耗額外能量，并延緩電壓上升/下降時(shí)間。結(jié)電容越大，電路速度越慢。增加開(kāi)關(guān)損耗高頻應(yīng)用（如數(shù)百 kHz ~ MHz 的開(kāi)關(guān)電源）中，結(jié)電容充放電損耗不可忽略。功耗大致與 Cj × V² × f 成正比。當(dāng)頻率和電壓都較高時(shí)，這部分損耗可能接近導(dǎo)通損耗。引入過(guò)沖與振蕩在高速電路中，結(jié)電容與 PCB 走線(xiàn)寄生電感共同形成 LC 諧振，可能導(dǎo)致過(guò)沖、振鈴，甚至 EMI 問(wèn)題，嚴(yán)重時(shí)會(huì)影響電路穩(wěn)定性。

三、結(jié)電容對(duì)信號(hào)完整性的影響高頻信號(hào)失真對(duì)于射頻（RF）、高速數(shù)字接口等電路，信號(hào)上升沿往往在納秒級(jí)。如果二極管結(jié)電容過(guò)大，就會(huì)像一個(gè)低通濾波器，導(dǎo)致信號(hào)邊沿變緩、波形失真。阻抗匹配破壞在傳輸線(xiàn)上，結(jié)電容相當(dāng)于一個(gè)額外負(fù)載，會(huì)改變局部阻抗。如果不做匹配處理，容易產(chǎn)生反射，影響信號(hào)完整性。串?dāng)_與耦合當(dāng)多個(gè)高速信號(hào)通道并排布線(xiàn)時(shí)，結(jié)電容過(guò)大的器件會(huì)增加耦合效應(yīng)，導(dǎo)致通道間的串?dāng)_問(wèn)題。

四、如何降低結(jié)電容的不利影響？選型優(yōu)化高頻場(chǎng)景優(yōu)先選擇 低結(jié)電容二極管（如小信號(hào)開(kāi)關(guān)二極管、肖特基二極管、專(zhuān)用 ESD 保護(hù)二極管）。在高速信號(hào)鏈路中，應(yīng)盡量使用結(jié)電容 <1 pF 的器件。電路補(bǔ)償在某些場(chǎng)景中，可以通過(guò)串聯(lián)電阻或 RC 網(wǎng)絡(luò)來(lái)抑制結(jié)電容引起的振鈴。對(duì)于信號(hào)完整性要求較高的線(xiàn)路，可采用匹配電阻。PCB 布局優(yōu)化縮短高頻走線(xiàn)，降低寄生電感，避免與結(jié)電容形成強(qiáng)耦合。保護(hù)器件盡量靠近接口，減少走線(xiàn)長(zhǎng)度引發(fā)的附加電容。頻率與電壓權(quán)衡在實(shí)際設(shè)計(jì)中，器件選型往往需要在耐壓與結(jié)電容之間平衡。通常，耐壓越高，結(jié)電容也越大，這需要根據(jù)電路的電壓等級(jí)和頻率進(jìn)行綜合判斷。

五、FAE 視角下的總結(jié)從 FAE 的經(jīng)驗(yàn)來(lái)看，很多客戶(hù)遇到“高頻不穩(wěn)定、波形失真或 EMI 超標(biāo)”時(shí)，往往第一時(shí)間懷疑控制芯片或布局問(wèn)題，而忽略了二極管本身的結(jié)電容效應(yīng)。事實(shí)上，結(jié)電容過(guò)大不僅限制電路速度，還可能破壞信號(hào)完整性。

因此，在高頻設(shè)計(jì)中，不能只看二極管的耐壓和電流參數(shù)，還必須結(jié)合結(jié)電容指標(biāo)進(jìn)行綜合評(píng)估。如果器件的結(jié)電容已經(jīng)成為瓶頸，F(xiàn)AE 的建議通常是：換用低結(jié)電容型號(hào)，優(yōu)化布局，或在系統(tǒng)級(jí)增加補(bǔ)償設(shè)計(jì)。唯有同時(shí)兼顧電氣與熱、信號(hào)完整性，才能確保高頻應(yīng)用下的電路可靠穩(wěn)定。