電解電容爆炸的原因:
1.正負(fù)極性接反?原因?
2.耐壓不夠?
3.容量不夠?原因?
實(shí)驗(yàn)中發(fā)現(xiàn):電源的輸出濾波電容用200v/100u的時(shí)候總是出現(xiàn)電容爆炸;當(dāng)把輸出濾波電容換成200v/1000uF,電源就能穩(wěn)定工作.請(qǐng)問(wèn):濾波電容的容量不夠使電容發(fā)生爆炸的原因是什么?
電解電容發(fā)生爆炸的原因
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不太同意以上樓上的說(shuō)法,根據(jù)i=C*dv/dt, 如果電容量小的話,只改變了電壓的變化量,對(duì)充電電流影響不大的．如果dv/dt恒定的話,那么,C越小,則i越小,所以電容量小不會(huì)導(dǎo)致充電電流變大．所以我認(rèn)為電容量不夠造成電容發(fā)熱爆炸的原因不是充電電流變大引起的,而是由于電容的阻抗(ESR)引起的,100uF的電容要比1000uF的電容的阻抗值大幾倍以上,這么大的阻抗,你的電容當(dāng)然會(huì)發(fā)熱爆炸了．
以上個(gè)人之見(jiàn),僅供參考,說(shuō)錯(cuò)了不要向我扔雞蛋~~~
以上個(gè)人之見(jiàn),僅供參考,說(shuō)錯(cuò)了不要向我扔雞蛋~~~
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@晶體管
不太同意以上樓上的說(shuō)法,根據(jù)i=C*dv/dt,如果電容量小的話,只改變了電壓的變化量,對(duì)充電電流影響不大的．如果dv/dt恒定的話,那么,C越小,則i越小,所以電容量小不會(huì)導(dǎo)致充電電流變大．所以我認(rèn)為電容量不夠造成電容發(fā)熱爆炸的原因不是充電電流變大引起的,而是由于電容的阻抗(ESR)引起的,100uF的電容要比1000uF的電容的阻抗值大幾倍以上,這么大的阻抗,你的電容當(dāng)然會(huì)發(fā)熱爆炸了．以上個(gè)人之見(jiàn),僅供參考,說(shuō)錯(cuò)了不要向我扔雞蛋~~~
我同意由于ESR高引爆這個(gè)觀點(diǎn),但我補(bǔ)充一點(diǎn),高壓的電容ESR要小點(diǎn)
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@hysman
濾波電容的容量不夠使電容發(fā)生爆炸的原因--我認(rèn)為是負(fù)載電流大,而造成電容充放電電流過(guò)大造成的!
不同意1樓
100UF 的紋波電流 （指流經(jīng)電容器） 肯定比 1000UF的要小 。。。。
所以你說(shuō)的充電電流過(guò)大沒(méi)有道理。
炸掉的電容你要分析原因
1 炸掉前輸出電壓是否超高？？
2 檢查炸掉的電容內(nèi)部結(jié)構(gòu)的極性 是否接反
3 以上兩條均沒(méi)有，看未炸機(jī)的電容是否溫升過(guò)高，若是，則是電容ESR過(guò)大
以上3條都沒(méi)有，就是電容品質(zhì)就不行。換！！
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@賀赫無(wú)名
不同意1樓 100UF的紋波電流（指流經(jīng)電容器） 肯定比1000UF的要小。。。。所以你說(shuō)的充電電流過(guò)大沒(méi)有道理。炸掉的電容你要分析原因1炸掉前輸出電壓是否超高？？2檢查炸掉的電容內(nèi)部結(jié)構(gòu)的極性是否接反3以上兩條均沒(méi)有，看未炸機(jī)的電容是否溫升過(guò)高，若是，則是電容ESR過(guò)大以上3條都沒(méi)有，就是電容品質(zhì)就不行。換！！
電解電容爆炸無(wú)非是以下幾點(diǎn)
1、正負(fù)極接反
2、過(guò)壓
3、耐紋波電流不夠，產(chǎn)品受紋波電流過(guò)大，內(nèi)部發(fā)熱。
4、電容本身質(zhì)量問(wèn)題。
全自動(dòng)選別機(jī)，用于剔除特性不良的電解電容。
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