牛角電容內(nèi)爆問題
請問各位做牛角（焊真）電容的朋友，有沒遇到個問題，牛角產(chǎn)品老練好后，測試完，外觀分選時發(fā)現(xiàn)有的產(chǎn)品既然是內(nèi)爆（就是電容芯包內(nèi)部爆炸），鋁殼有鼓起，但此產(chǎn)品的3參數(shù)是好的，就是說此產(chǎn)品能通過測試機(jī)的檢測，還有一次偶然的機(jī)會，我們發(fā)現(xiàn)，還有的產(chǎn)品發(fā)生內(nèi)爆了，但產(chǎn)品外觀卻很好，沒有一點(diǎn)問題，這樣風(fēng)險(xiǎn)很大，讓我們對發(fā)出去的產(chǎn)品都不放心，請問大家，有沒什么辦法能把內(nèi)爆的產(chǎn)品，在測試上給踢出。說明下，經(jīng)檢測，內(nèi)爆的產(chǎn)品3參數(shù)和正常產(chǎn)品基本一致，沒有那個參數(shù)和正常的差距很大的。
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@daizi215
有擊穿鋁箔分切毛刺機(jī)鋁粉控制好，卷繞不要錯位，鉚接不要有毛刺，老煉時升壓慢點(diǎn)，會好的，我們也遇到過這樣的問題
內(nèi)爆這個問題比較復(fù)雜，一般從材料配套，制程工藝分兩大類來分析。
如果是材料，可能是電解液閃火電壓異常，異常的電解液結(jié)晶物，鋁箔化成欠點(diǎn)，電解紙密度低或不均勻等。但這些情況內(nèi)爆比例較大且批次差異不大。
制程工藝來說，分切毛刺，鋁箔劃傷，箔片打皺，箔片裂口，導(dǎo)箔毛刺，含浸時的擦傷，組立時的擦傷 等都會發(fā)生內(nèi)爆。這些情況內(nèi)爆比例小且批次差異大。
但不管是那種情形，想完全剔除只有全數(shù)拆裝。目前用的比較好的方法是雙機(jī)聯(lián)動二次全數(shù)測試。但無法100%剔除。
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@JS_CZJ
內(nèi)爆這個問題比較復(fù)雜，一般從材料配套，制程工藝分兩大類來分析。如果是材料，可能是電解液閃火電壓異常，異常的電解液結(jié)晶物，鋁箔化成欠點(diǎn)，電解紙密度低或不均勻等。但這些情況內(nèi)爆比例較大且批次差異不大。制程工藝來說，分切毛刺，鋁箔劃傷，箔片打皺，箔片裂口，導(dǎo)箔毛刺，含浸時的擦傷，組立時的擦傷等都會發(fā)生內(nèi)爆。這些情況內(nèi)爆比例小且批次差異大。但不管是那種情形，想完全剔除只有全數(shù)拆裝。目前用的比較好的方法是雙機(jī)聯(lián)動二次全數(shù)測試。但無法100%剔除。
謝謝大家的見解，大概的原因大家說的都差不多，我也有一定的了解，但我現(xiàn)在除了在源頭控制外，我還想想個辦法，就是在測試或者那道工序能控制它，不要讓它流到外觀分選那里，因?yàn)樵诜诌x也不能保證100%，況且還有些內(nèi)爆的產(chǎn)品外觀沒一點(diǎn)問題。
雙機(jī)聯(lián)動二次全數(shù)測試？還請解釋下，是把產(chǎn)品測試2次？
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