01、問(wèn)題現(xiàn)象描述

某款產(chǎn)品在3米法電波暗室進(jìn)行輻射（RE）發(fā)射測(cè)試時(shí),發(fā)現(xiàn)多個(gè)頻點(diǎn)余量不滿足6dB管控要求，具體測(cè)試數(shù)據(jù)如下：

圖1：輻射發(fā)射測(cè)試數(shù)據(jù)

02、問(wèn)題原因分析

通過(guò)頻譜分析儀近場(chǎng)探頭分析定位到干擾頻點(diǎn)來(lái)自于SPI Flash時(shí)鐘信號(hào)的高次諧波干擾，深入分析發(fā)現(xiàn)SPI Flash時(shí)鐘信號(hào)回流主芯片的參考地存在嚴(yán)重的分割情況，造成時(shí)鐘信號(hào)回流面積變大，引起輻射發(fā)射測(cè)試超標(biāo)。

圖2：SPI Flash芯片PCB Layout圖（修改前）

03、問(wèn)題解決方案

修改PCB Layout，調(diào)整SPI Flash時(shí)鐘信號(hào)參考地平面，使之參考地平面保持完整性，并優(yōu)化SPI Flash芯片其它信號(hào)布線，時(shí)鐘信號(hào)兩側(cè)包地隔離串?dāng)_。

圖3：SPI Flash芯片PCB Layout圖（修改后）

PCB Layout修改后，回板重新測(cè)試輻射發(fā)射，其結(jié)果滿足6dB余量管控標(biāo)準(zhǔn)的要求，具體測(cè)試數(shù)據(jù)如下：

圖4：SPI Flash芯片供電電源引腳頻譜圖

04、案例思考與啟示

SPI Flash芯片時(shí)鐘信號(hào)工作頻率及高次諧波頻率的輻射發(fā)射問(wèn)題，在電子產(chǎn)品中是經(jīng)常遇到。大部分工程師首先想到的是降低信號(hào)幅度，增加濾波電路，費(fèi)了九牛二虎之力發(fā)現(xiàn)效果還不理想，往往是求解無(wú)門。即使是增加濾波電路勉強(qiáng)解決輻射發(fā)射問(wèn)題，回頭發(fā)現(xiàn)信號(hào)質(zhì)量又不滿足設(shè)計(jì)要求，被問(wèn)題搞的焦頭爛額，束手無(wú)策。

SPI Flash信號(hào)參考完整性的問(wèn)題卻容易被工程師們忽略，保持時(shí)鐘信號(hào)參考完整性是解決輻射發(fā)射問(wèn)題的殺手锏之一，本案例就深刻的詮釋是參考完整性的重要性，且能夠保證對(duì)策的低成本，還能夠信號(hào)的高質(zhì)量。