大家好,我是硬件微講堂。這是在電子星球的第21篇原創(chuàng)文章。為避免錯(cuò)過(guò)干貨內(nèi)容,一定記得點(diǎn)贊、收藏、分享喲。加微信hardware_lecture進(jìn)群溝通交流。
關(guān)于晶體,已經(jīng)發(fā)過(guò)兩篇,主要講了關(guān)鍵術(shù)語(yǔ) 和 頻偏計(jì)算:
①晶體在使用過(guò)程中需要注意哪些點(diǎn)?(一)-- 關(guān)鍵參數(shù)
②晶體在使用過(guò)程中需要注意哪些點(diǎn)?(二)--PCB板實(shí)際頻偏計(jì)算
前幾天看到有粉絲留言讓講一下“無(wú)源晶體起振的條件”,這是個(gè)不錯(cuò)的問(wèn)題,我覺(jué)得有必要聊聊,所以就有了這第3篇文章。
1、一道面試題
照例,先拋出來(lái)一道面試題:“PCB板上的晶體不起振,可能是什么原因?”。這個(gè)問(wèn)題比較常規(guī),筆試題中標(biāo)的概率比較高,實(shí)際使用時(shí)也可能會(huì)碰到這類問(wèn)題。如何回答,10秒時(shí)間自己先思考下。
2、負(fù)性阻抗(-R)是什么?
要回答這個(gè)問(wèn)題,我覺(jué)得有必要先搞清楚什么是晶體的負(fù)性阻抗。
負(fù)性阻抗,英文:Negative Resistance;簡(jiǎn)寫:-R;單位:Ω。在網(wǎng)上搜了下,找到如下描述。
負(fù)性阻抗是指從石英晶體共振子的二個(gè)端子往振蕩線路看過(guò)去,所得到振蕩線路在振蕩頻率時(shí)的阻抗特性值。 -- 源自網(wǎng)絡(luò)
還有一種解釋,是從Murata網(wǎng)站看到的。
負(fù)性阻抗是指用阻抗表示的振蕩電路的信號(hào)放大能力。 --Murata 網(wǎng)站
這兩個(gè)定義,看起來(lái)都比較偏學(xué)術(shù),不太通俗。我個(gè)人傾向于Murata的解釋。大家知道大概意思就行了,不必糾結(jié),重點(diǎn)是下面的內(nèi)容。
3、(-R) 能做什么?
上面的定義,你可以不理解不清楚,但是下面這個(gè)你必須搞清楚弄明白。
敲黑板,這才是重點(diǎn)?。?!
負(fù)性阻抗(-R)用于表征振蕩裕量,即從振蕩到振蕩停止的裕量。
負(fù)性阻抗(-R)不是晶體的內(nèi)部參數(shù), 而是PCB電路的實(shí)測(cè)值,是晶體在PCB線路設(shè)計(jì)時(shí)的一個(gè)重要參數(shù),可用于判斷晶體振蕩電路的穩(wěn)定性。
如果在PCB上測(cè)出來(lái)的負(fù)性阻抗偏小,則表示該晶體振蕩器的線路設(shè)計(jì)起振裕量不足,設(shè)計(jì)不合理。
4、(-R) 測(cè)量方法及步驟
說(shuō)完負(fù)性阻抗(-R)的作用,再說(shuō)下它的測(cè)量方法。
上圖為負(fù)性阻抗測(cè)試的示意圖。圖中,Xtal是晶體,Rf是負(fù)反饋電阻,Rd是限流電阻,CL1/CL2是外部匹配電容,Vr是可調(diào)電阻。
負(fù)性阻抗(-R)的測(cè)試步驟:
①將可調(diào)電阻Vr與晶體串聯(lián)接入回路,如上圖。Vr是我們?yōu)榱藴y(cè)試負(fù)性阻抗,刻意添加進(jìn)去的。
②調(diào)節(jié)可變電阻Vr,使回路起振或停振。當(dāng)回路剛停振時(shí),測(cè)試Vr的阻值;
③通過(guò)公式|-R|=RL+Vr,計(jì)算得到負(fù)性阻抗值。
特別說(shuō)明:RL是晶體加負(fù)載電容的諧振阻抗,不是ESR。網(wǎng)上看有些文章,直接寫|-R|=ESR+Vr,這是不對(duì)的,不要被誤導(dǎo)。
5、(-R) 阻值定量分析
根據(jù)上面的測(cè)量,此時(shí)已經(jīng)得出負(fù)性阻抗(-R)的阻值|-R|。
既然負(fù)性阻抗|-R|偏小表示晶體起振裕量不足,那|-R|阻值多少才算是一個(gè)合理值呢?
現(xiàn)在我們從定性分析已經(jīng)進(jìn)階到定量分析,繼續(xù)往下看。
至少是規(guī)格書標(biāo)稱ESR的5倍,才合適!阻值越大,振蕩裕量越高,說(shuō)明振蕩越穩(wěn)定。
6、實(shí)際案例
上面講的一大堆,都是理論知識(shí)。如果僅僅這樣就結(jié)束本篇文章,那太不符合“硬件微講堂”貼近實(shí)戰(zhàn)的秉性,更體現(xiàn)不出來(lái)專業(yè)性。
上圖是某品牌的晶體匹配測(cè)試報(bào)告中負(fù)性阻抗(-R)和振蕩裕量計(jì)算部分。
可以看出:可調(diào)電阻R實(shí)測(cè)值為769Ω,RL為10Ω,則負(fù)性阻抗|-R|=779Ω。而該晶體標(biāo)稱的ESR(max)=60Ω,則振蕩裕量(倍率)=|-R|/ESR=12.98倍,大于要求的5倍,滿足起振要求。
7、晶體不起振的原因…
再回到文章開頭提到的面試題“PCB板上的晶體不起振,可能是什么原因?”,負(fù)性阻抗偏小,振蕩裕量不夠,就是一個(gè)可能性比較大的原因。但這并不是唯一的原因,還有其他原因么?
當(dāng)然有,其他原因有哪些,歡迎你在留言區(qū)交流。
8、晶體不起振,如何調(diào)整?
這也是一個(gè)不錯(cuò)的問(wèn)題,我說(shuō)2種方法:
方法①:減小外部匹配電容CL1/CL2,以增大負(fù)性阻抗;
方法②:更換標(biāo)稱值ESR更小的晶體,以增大振蕩裕量;
歡迎你在留言區(qū)交流調(diào)整措施。
9、總結(jié)
聊到這里,今天要說(shuō)的也差不多了,總結(jié)下今天聊的內(nèi)容:
①(-R)是指用阻抗表示的振蕩電路的信號(hào)放大能力;
②(-R)用于表征振蕩裕量,即從振蕩到振蕩停止的裕量;
③(-R)不是晶體的內(nèi)部參數(shù), 而是PCB電路的實(shí)測(cè)值;
④(-R)可用于判斷晶體振蕩電路的穩(wěn)定性;
⑤(-R)的測(cè)試環(huán)境示意圖和測(cè)試步驟;
⑥(-R)的計(jì)算公式:|-R|=RL+Vr,特別說(shuō)明RL不是ESR;
⑦(-R)的定量分析:至少是規(guī)格書標(biāo)稱ESR的5倍,才合適!
⑧晶體不起振的原因:可能的原因之一是負(fù)性阻抗偏小,振蕩裕量不夠。
附加題:
⑨晶體不起振的原因,除了負(fù)性阻抗偏小,其他還有哪些原因?歡迎留言交流。
⑩晶體不起振,如何調(diào)整?已給出2種方法,歡迎留言交流。
怎么樣?一個(gè)簡(jiǎn)短的問(wèn)題,給出的回答可淺可深。我的助攻只能到這里,能否晉升到陸地神仙境,一劍開天門,就看你的造化了!
關(guān)注“硬件微講堂”,硬件路上不慌張!