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是德科技攜最新PCI Express?方案亮相開發(fā)者大會

2015-07-03 15:55 來源:電源網 編輯:柚子

2015 年 7 月 3 日,北京——是德科技公司(NYSE:KEYS)近日宣布,在美國加州圣克拉拉會展中心舉辦的PCI-SIG 2015 年開發(fā)者大會上,展示了其 PCI Express?(PCIe?)解決方案。

本次開發(fā)者大會上,是德科技展出眾多解決方案,包括 PCIe Hot TDR 測量、物理層測試系統(tǒng)(PLTS)、PCIe/NVMe 協(xié)議測試、PCIe 發(fā)射機和接收機測試、PCIe 和 USB 設計仿真工具。是德科技展出了超過25種硬件和軟件產品,旨在幫助工程師應對當前和未來的設計與測量挑戰(zhàn)。

此外,是德科技還隆重推出了以下新產品:

U4305B-E04 練習器提供 L1 Substate分析特性,可用于驗證 2.5、5 和 8 Gbps PCIe 技術和 LTSSM 操作

M8020A J-BERT 高性能比特誤碼率測試儀推出可調節(jié)碼間干擾(ISI)功能和基于 PCI Express 技術的交互式鏈路訓練功能

先進設計系統(tǒng)(ADS)仿真元件,包括W2352EP PCI Express一致性測試臺和W2353EP USB一致性測試臺。

PCI-SIG 主席兼總裁 Al Yanes 表示:“是德科技是 PCI-SIG 的資深成員,一直專注于為 PCI Express 設計和測量解決方案開發(fā)更好的測試工具。是德科技解決方案將確保 PCI-SIG 的成員可以使用必要的測試儀器來驗證 PCIe 器件的互操作性?!?

是德科技數(shù)字測試標準計劃

是德科技專家積極參與國際標準委員會的工作,并推動和支持是德科技開發(fā)數(shù)字應用解決方案。是德科技專家參與的標準組織包括電子器件工程聯(lián)合會(JEDEC)、PCI 特殊利益集團(PCI-SIG?)、視頻電子標準協(xié)會(VESA)、串行 ATA 國際組織(SATA-IO)、USB 應用廠商論壇(USB-IF)、移動行業(yè)處理器接口(MIPI?)聯(lián)盟、以太網標準(IEEE 802.3)、光互聯(lián)網絡論壇(OIF)和其他多個組織。是德科技踴躍參與國際標準組織及其相關的研討會和活動,以便是德科技能夠適時推出恰當?shù)臏y試解決方案,滿足客戶持續(xù)演進的需求。

標簽: 是德科技

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