我們首先來借鑒張海峰“簡談電子元器件選型”的這篇文章來講講作為硬件工程師來說，對于元器件需要具備哪些方面的技能與知識(shí)點(diǎn)，而以下的內(nèi)容就是關(guān)于在硬件原理圖中一些元器件的選取所要遵循的基本原則。

在原理圖中，關(guān)于元器件的選型之中的常用的元器件：電容、電阻、二三極管來說是需要關(guān)注的，因?yàn)樵韴D中大部分的元器件都是由這四種基本的元器件所構(gòu)成的，而對于選型也就尤為重要。

在一個(gè)項(xiàng)目中，最為重要的莫過于MCU芯片，再一說到原理圖的組成部分時(shí)，就需要牽涉到的是幾大部分：MCU、晶振、復(fù)位、電源等，接下來就是：

當(dāng)中的控制模塊（驅(qū)動(dòng)模塊，集聯(lián)模塊，PWM產(chǎn)生模塊等），在MCU的設(shè)計(jì)過程之中懸空的引腳也需要關(guān)注的是上拉或者是下拉，因?yàn)閼铱盏囊_會(huì)對靜態(tài)電流會(huì)有相對應(yīng)的影響。

同樣對于硬件原理圖之中的組成部分也缺少不了其他的元器件：磁珠，連接器，瞬時(shí)保護(hù)器件，電桿，撥碼開關(guān)等等，而里面的選型同樣的也和樣品的可靠性有關(guān)，如果在這個(gè)環(huán)節(jié)之中元器件有著一些方面的紕漏，導(dǎo)致樣件的功能受到了影響，那么接下來就來集中的說說元器件失效分析當(dāng)中的知識(shí)點(diǎn)，以及在實(shí)驗(yàn)的過程當(dāng)中到底擁有哪些方面的原因?qū)е鲁霈F(xiàn)了失效，失效的機(jī)理到底是什么:機(jī)理大致如下圖所編制的內(nèi)容。

在實(shí)際的過程之中如果比如電阻，電容等元器件如果失效了以后，應(yīng)該從哪方面的因素去考慮，而看下面所梳理的細(xì)節(jié)內(nèi)容。

總結(jié)：成品的樣件，可靠性最終追究的是元器件的可靠性，所以對于硬件工程師來說，在立項(xiàng)與參數(shù)技術(shù)的過程當(dāng)中都會(huì)考慮在做項(xiàng)目過程元器件的功能等級這塊的要求，然而對于一些MCU與集成芯片來說，國內(nèi)外的產(chǎn)品是存在著差距的，不管是安全性亦或者是功能的方面，而后面關(guān)于元器件失效故障方面其實(shí)是可以選型以及上篇文章所講述的DFMEA階段可以避免，所以說如果前期方面考慮到一些因素，后面是可以避免的。

參考文獻(xiàn)：

簡談電子元器件選型；張海峰 ，蒂森克虜伯電梯(上海)有限公司

電子元器件的失效機(jī)理和常見故障分析 ；中國科技博覽 2017年32期

電子元器件失效分析及技術(shù)發(fā)展；恩云飛，羅宏偉，來 萍，元器件可靠性物理及其應(yīng)用技術(shù)國家級重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室