泰克科技2021年度創(chuàng)新論壇（TIF 2021）6月16日于北京開啟。TIF助力第四次工業(yè)革命， 旨在“破-技術瓶頸、創(chuàng)-科技引擎、智-產(chǎn)業(yè)升級”，不忘初心，立足本土以及著力于全面數(shù)字化轉(zhuǎn)型，分享業(yè)界最新的發(fā)展趨勢和最前沿的測試方案。

本次論壇正值泰克75周年慶典之際，圍繞“數(shù)智泰克 創(chuàng)贏未來”的宗旨，泰克不僅發(fā)布了中國本土化戰(zhàn)略，還揭秘了中國特色的測試方案。在創(chuàng)新論壇北京站現(xiàn)場，泰克擁有多年經(jīng)驗、來自不同熱門應用領域的專家圍繞主題進行了課程方案的分享，包括全新電力電子實驗平臺、三代功率器件動態(tài)測試系統(tǒng)、全新光隔離探頭、PCIE5和USB4.0高速總線測試、新型計算框架及神經(jīng)元憶阻器表征測試等熱門應用的展示以及獨家解讀。

第三代功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

DPT1000A 功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)由泰克科技領銜開發(fā)，專門用于針對三代半導體功率器件的動態(tài)特性分析測試，旨在解決客戶在功率器件動態(tài)特性表征中常見的疑難問題，包括如何設計高速工作的驅(qū)動電路，如何適配多種芯片封裝形式，如何選擇和連接探頭進行信號測試，如何優(yōu)化和抑制測試過程中的噪聲和干擾。幫助客戶在研發(fā)設計、失效分析、進廠檢測和試產(chǎn)階段快速評估器件性能，更快應對市場需求改善產(chǎn)品性能。也幫助客戶快速驗證自研驅(qū)動電路，加速應用端解決方案落地。

該系統(tǒng)由功率器件雙脈沖測試驅(qū)動板，高壓防護罩，芯片溫控系統(tǒng)，泰克高分辨率示波器，光隔離探頭，雙脈沖信號源，高壓電源和自動化測試軟件組成。以機柜系統(tǒng)形式交付客戶，可以通過上位機軟件配置測試設備和測試項目，獲取測試結(jié)果并生成數(shù)據(jù)報告。系統(tǒng)具備極高的測試靈活性，可以根據(jù)需求定制驅(qū)動電路板設計，更改柵極電阻，負載電感等關鍵器件參數(shù)。在保證安全的前提下，對功率器件的動態(tài)參數(shù)進行全面精準的測試評估。同時使用了泰克公司最新推出的新五系高分辨率示波器和專門用于高壓查分信號測試的光隔離探頭，為三代半導體器件動態(tài)特性表征帶來更高帶寬和更高測試精度。泰克新五系示波器可以最高支持8通道同時測量，對于半橋結(jié)構(gòu)雙脈沖測試電路，可以同時對上下管信號進行同步測試。光隔離探頭提供了極高的共模抑制比，可以在上管測試中提供更準確的波形數(shù)據(jù)。針對系統(tǒng)中高速電流的測試，使用高精度電流傳感器，得到更高的電流測試帶寬和更準確的電流波形。同時系統(tǒng)還提供了動態(tài)導通電阻測試功能，可以在高速開關狀態(tài)下對器件的動態(tài)導通電阻進行評估，幫助客戶更準確的了解器件動態(tài)特性。

全新光隔離探頭

寬禁帶半導體功率器件SiC 和GaN比傳統(tǒng)硅基器件更小、更快、更可靠、更高效，而被廣泛采用在電力電子應用中。雖然應用三代功率器件使得減少重量、縮小體積，提升效率成為可能，但是給研發(fā)工程師帶來了全新的測試挑戰(zhàn)，傳統(tǒng)的測試工具因其高頻，高共模，高壓等特性已經(jīng)不能滿足測試要求，泰克推出針對第三代功率器件全新的光隔離技術的測試系統(tǒng)，再一次引領全新的探測技術。

電子電子開發(fā)仿真實驗平臺

專為中國高校設計，泰克推出電力電子開發(fā)仿真實驗平臺REPERS，從實際工程和產(chǎn)品開發(fā)需求出發(fā)，以“工程思維訓練”和“產(chǎn)品思維訓練”為核心，執(zhí)行“真開發(fā)”、研發(fā)“真產(chǎn)品”、落實“真應用”，將電力電子技術與新能源應用場景相結(jié)合。根據(jù)儲能、光伏發(fā)電、電動汽車、智能微電網(wǎng)等新能源應用的需求，進行相關電源、控制產(chǎn)品的認知、仿真、開發(fā)、測試和系統(tǒng)應用。REPERS執(zhí)行“在系統(tǒng)應用中找需求”的理念，讓學生在應用中找問題，在開發(fā)中找欠缺。通過問題引導理論學習，并將知識應用于開發(fā)，實現(xiàn)理論知識、實踐教學、產(chǎn)品開發(fā)、系統(tǒng)應用的循環(huán)引導體系，相互促進。

REPERS執(zhí)行“以設計為中心”的實踐教學理念，培養(yǎng)學生開發(fā)產(chǎn)品的能力。掌握小產(chǎn)品，熟悉大工程。讓學生在學習過程中熟悉產(chǎn)品開發(fā)的流程，懂得如何完成器件選型、控制仿真、電路設計、拓撲驗證、算法運行和系統(tǒng)測試等工作，而不只是進行傳統(tǒng)的驗證與簡單仿真工作。讓傳統(tǒng)的“以教學為中心”轉(zhuǎn)變?yōu)榛谡鎸嵁a(chǎn)品的“以設計為中心”，讓學生基于場景設計產(chǎn)品，基于需求設計功能，基于功能選擇器件、模塊和控制算法。帶著實際工程問題進課堂，用工程問題引領實踐教學改革。

泰克/安立 PCIE Gen5聯(lián)合解決方案，助力下一代高速通信接口測試

"2020年的疫情，提升了人們對網(wǎng)絡服務的依賴性，進一步加快了對數(shù)據(jù)中心的需求。數(shù)據(jù)中心的交換速率已經(jīng)從 100 G 逐漸向 4 00G 800G 轉(zhuǎn)換，使得數(shù)據(jù)中心的處理核心服務器以及存儲需要具備更高的性能來應對迅速增長的數(shù)據(jù)。應用服務器、存儲的 P CI e 的接口在 P CI3.0 停滯了一段時間后快速的向 P CI e 4.0 切換， P CI e 5.0 的測試規(guī)范也馬上要正式發(fā)布，基于更高速率的 P CI e 6.0 的規(guī)范也在制定中。同時 5 G 網(wǎng)絡的快速部署以及更多互連應用的興起，又進一步促進了包括 U SB,DP,TBT,HDMI 各類消費電子接口的快速提升。

作為測試測量行業(yè)的代表，泰克、安立與GEL攜手共話高速接口PCIe/USB/DP/TBT，搭建PCIe和USB一致性測試系統(tǒng)。"

新型計算框架及憶阻器、神經(jīng)元網(wǎng)絡測試

憶阻器備受關注的重要應用領域包括：非易失存儲(Nonvolatile memor)，邏輯運算(Logic computing)，以及類腦神經(jīng)形態(tài)計算(Brain-inspired neuromorphic computing) 等。這三種截然不同又相互關聯(lián)的技術路線，為發(fā)展信息存儲與處理融合的新型計算體系架構(gòu)，突破傳統(tǒng)馮? 諾伊曼架構(gòu)瓶頸，提供了可行的路線。

目前，國內(nèi)憶阻器研究在材料體系、物理機制、性能優(yōu)化、規(guī)模集成、非線性電路和類腦神經(jīng)形態(tài)計算等方面取得了令人鼓舞的進展，但在憶阻器可靠性、陣列的控制電路設計，以及CMOS 集成工藝等方面還需要研究者和廣大工程技術人員協(xié)同攻關，更需要針對憶阻器不同研究階段的專業(yè)的測試系統(tǒng)保駕護航。