請(qǐng)教晶振比較標(biāo)準(zhǔn)的頻率測(cè)試方法
請(qǐng)大俠指導(dǎo)晶振比較標(biāo)準(zhǔn)的頻率、諧振電阻測(cè)試方法。謝先!
全部回復(fù)(9)
正序查看
倒序查看
1、對(duì)于晶體振蕩器,主要看你要求的實(shí)現(xiàn)方式、精準(zhǔn)級(jí)別、測(cè)試方面測(cè)試環(huán)境。
——實(shí)現(xiàn)方式如恒溫、溫補(bǔ)、無(wú)溫度修正、串聯(lián)、并聯(lián)等。
——級(jí)別比如2E、3E。
——測(cè)試方面如日穩(wěn)(日穩(wěn)定度)、年穩(wěn)、相位噪聲等。
——測(cè)試環(huán)境如測(cè)試時(shí)溫度、電磁環(huán)境(主要是輻射)等。這些主要跟切型(如AT、BT、SC)、切割工藝水平和接點(diǎn)連接方式/應(yīng)力有關(guān)。
2、以前我制作高檔晶振,一般是用原子鐘來(lái)調(diào)校。
3、也許摟主不是問(wèn)晶體振蕩器,而只是問(wèn)的晶體諧振器。那就又不一樣。
4、一般而言,只要不涉及通訊/通信(板內(nèi)、板間和設(shè)備之間),對(duì)于頻率要求不會(huì)很高。高檔晶振可能貴到數(shù)萬(wàn)元一只,體型大,難侍候。一般用途沒(méi)有必要。
5、對(duì)于晶體振蕩器的某些參數(shù),事實(shí)上理論界至今還是有點(diǎn)分歧的。主要源于數(shù)學(xué)模型和不同。
——實(shí)現(xiàn)方式如恒溫、溫補(bǔ)、無(wú)溫度修正、串聯(lián)、并聯(lián)等。
——級(jí)別比如2E、3E。
——測(cè)試方面如日穩(wěn)(日穩(wěn)定度)、年穩(wěn)、相位噪聲等。
——測(cè)試環(huán)境如測(cè)試時(shí)溫度、電磁環(huán)境(主要是輻射)等。這些主要跟切型(如AT、BT、SC)、切割工藝水平和接點(diǎn)連接方式/應(yīng)力有關(guān)。
2、以前我制作高檔晶振,一般是用原子鐘來(lái)調(diào)校。
3、也許摟主不是問(wèn)晶體振蕩器,而只是問(wèn)的晶體諧振器。那就又不一樣。
4、一般而言,只要不涉及通訊/通信(板內(nèi)、板間和設(shè)備之間),對(duì)于頻率要求不會(huì)很高。高檔晶振可能貴到數(shù)萬(wàn)元一只,體型大,難侍候。一般用途沒(méi)有必要。
5、對(duì)于晶體振蕩器的某些參數(shù),事實(shí)上理論界至今還是有點(diǎn)分歧的。主要源于數(shù)學(xué)模型和不同。
0
回復(fù)
@ziyu
1、對(duì)于晶體振蕩器,主要看你要求的實(shí)現(xiàn)方式、精準(zhǔn)級(jí)別、測(cè)試方面測(cè)試環(huán)境?!獙?shí)現(xiàn)方式如恒溫、溫補(bǔ)、無(wú)溫度修正、串聯(lián)、并聯(lián)等?!?jí)別比如2E、3E?!獪y(cè)試方面如日穩(wěn)(日穩(wěn)定度)、年穩(wěn)、相位噪聲等。——測(cè)試環(huán)境如測(cè)試時(shí)溫度、電磁環(huán)境(主要是輻射)等。這些主要跟切型(如AT、BT、SC)、切割工藝水平和接點(diǎn)連接方式/應(yīng)力有關(guān)。2、以前我制作高檔晶振,一般是用原子鐘來(lái)調(diào)校。3、也許摟主不是問(wèn)晶體振蕩器,而只是問(wèn)的晶體諧振器。那就又不一樣。4、一般而言,只要不涉及通訊/通信(板內(nèi)、板間和設(shè)備之間),對(duì)于頻率要求不會(huì)很高。高檔晶振可能貴到數(shù)萬(wàn)元一只,體型大,難侍候。一般用途沒(méi)有必要。5、對(duì)于晶體振蕩器的某些參數(shù),事實(shí)上理論界至今還是有點(diǎn)分歧的。主要源于數(shù)學(xué)模型和不同。
大俠謝謝你的回復(fù)。我主要的問(wèn)題是:在晶振頻率的檢測(cè)上,有沒(méi)有比較標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法(如晶振生產(chǎn)廠家一般采用什么方法,國(guó)家有沒(méi)有這方面的標(biāo)準(zhǔn)。),特別是質(zhì)量鑒定的方法。請(qǐng)賜教。
0
回復(fù)