LTspice 教程解釋了有兩種不同類型的 SPICE 模型:由簡單的 .MODEL 語句定義的和由更復(fù)雜的 .SUBCKT 語句定義的。.MODEL 語句定義了簡單的組件,例如二極管、晶體管、MOSFET 等,其中包含 SPICE 程序編寫者提供給我們的預(yù)定義特性列表。運算放大器、比較器等更深奧的組件由更通用的 .SUBCKT 模型定義。
最初創(chuàng)建 SPICE(不是 LTspice)時,程序員為用戶提供了特定數(shù)量的特性來定義某些組件。對于 MOSFET,這包括柵極源極開啟電壓、跨導(dǎo)、柵極電阻、源極和漏極連接等。這些被稱為 1 級參數(shù)并定義了 MOSFET 最重要的參數(shù)。在后來的幾年里,MOSFET 制造商希望進一步表征他們的 MOSFET,而不受 SPICE 作者提供給他們的固定參數(shù)列表的限制。因此,他們轉(zhuǎn)向 .SUBCKT 定義以允許他們擴展參數(shù)列表。這些被稱為 2 級和 3 級參數(shù),描述了 MOSFET 的原始 SPICE 定義中未定義的 MOSFET 特性。然而,為了使模型更加復(fù)雜,他們減慢了 MOSFET 的仿真時間。
因此,LTspice 使用更簡單的 .MODEL 語句來定義 MOSFET 的特性。如果使用第 3 方 MOSFET 模型導(dǎo)致仿真性能非常慢,這可能是因為該模型是使用 .SUBCKT 模型定義的,并且包含許多在了解電路性能時不需要的參數(shù)。
要創(chuàng)建給定 MOSFET 的 LTspice 模型,您需要原始數(shù)據(jù)表和該 MOSFET 的 pSPICE 模型。
在 LTspice 中定義 MOSFET 所需的參數(shù)如下:
Rg 柵極歐姆電阻 Rd 漏極歐姆電阻(這不是 RDSon,而是鍵合線的電阻) Rs 源極歐姆電阻。 Vto 零偏置閾值電壓。 Kp – 跨導(dǎo)系數(shù) Lambda 漏電流隨 Vds 的變化 Cgdmax 最大柵漏電容。 Cgdmin 最小柵漏電容。 Cgs 柵極到源極電容。 Cjo 寄生二極管電容。 是寄生二極管飽和電流。 Rb 體二極管電阻。
Rg、Rd 和 Rs 是將管芯連接到封裝的鍵合線的電阻。
Vto 是 MOSFET 的開啟電壓。
Kp 是 MOSFET 的跨導(dǎo)。這決定了在給定柵源電壓下流過的漏電流。
Lambda 是漏極電流隨漏源電壓的變化,與 Kp 一起用于確定 RDSon。
Cgdmax 和 Cgdmin 是柵極漏極電容的最小值和最大值,通常在 MOSFET 數(shù)據(jù)表中以 Crss 表示。電容器的電容與其極板之間的距離成反比。當MOSFET導(dǎo)通時,柵極與漏極導(dǎo)電溝道的距離等于絕緣柵氧化層的厚度(較小),因此柵極漏極電容較高。當 MOSFET 關(guān)斷時,柵漏區(qū)較大,使得柵漏電容較低。這可以在Crss的圖上看到。
Cgs 是柵源電容。盡管它會隨柵源電壓而略有變化,但 LTspice 假定它是恒定的。
Is 是寄生體二極管飽和電流。
Rb 是體二極管的串聯(lián)電阻。
Fairchild FDS6680A MOSFET 在 LTspice 中被定義為
.model FDS6680A VDMOS(Rg=3 Rd=5m Rs=1m Vto=2.2 Kp=63 Cgdmax=2n Cgdmin=1n Cgs=1.9n Cjo=1n Is=2.3p Rb=6m mfg=Fairchild Vds=30 Ron=15m Qg =27n)
注意:LTspice 實際上忽略了特性 Vds、Ron 和 Qg。添加這些只是為了幫助用戶比較 MOSFET。
因此,一個示例模板 MOSFET 模型是
.model XXXX VDMOS(Rg= Rd=5 Rs=1 Vto= Kp= Cgdmax= Cgdmin= Cgs= Cjo= Is= Rb= )
我們現(xiàn)在將為 Vishay 的 SUM75N06 和 SUM110N04 低導(dǎo)通電阻 MOSFET 構(gòu)建 MOSFET 模型
SUM75N06 數(shù)據(jù)表 原裝 SUM75N06 型號
SUM110N04 數(shù)據(jù)表 原裝 SUM110N04 型號
SUM75N06 具有中等偏低的導(dǎo)通電阻和中等偏低的 Qg,因此適合作為同步降壓轉(zhuǎn)換器中的頂級 FET。SUM110N04 具有高 Qg 但導(dǎo)通電阻較低,因此適合作為同步降壓轉(zhuǎn)換器中的底部 FET(參見 降壓轉(zhuǎn)換器設(shè)計)。
最終的 SPICE 模型可以在這里下載: SUM75N06 LTspice 模型
最終的 SPICE 模型可以在這里下載: SUM110N04 LTspice 模型
然后可以使用這些測試夾具測試 SPICE 模型:
RDSon 測試治具(文末下載)
要測試 MOSFET 的 RDSON,請將模型導(dǎo)入 LTspice 測試電路。查看數(shù)據(jù)表以了解 RDSOn 是如何測試的。它將以一定的柵源電壓和一定的漏電流為特征。
運行模擬。探測漏極電壓。探測漏電流。編輯 Drain current 圖標以讀取V(drain)/Id(M1)。這會將軸之一更改為讀取導(dǎo)通電阻。您可能需要稍微更改參數(shù) Kp 以匹配數(shù)據(jù)表性能。
開關(guān)時間測試治具(文末下載)
要測試 MOSFET 的開關(guān)時間,請將模型導(dǎo)入 LTspice 測試電路。檢查數(shù)據(jù)表以了解如何測試開關(guān)時間。它們將具有特定的柵極驅(qū)動電壓、柵極驅(qū)動電阻和漏極電壓,并且響應(yīng)時間將在漏極電流斜升至特定水平時表征。
運行模擬。探測柵極電壓。探測漏電流。放大柵極/漏極波形的上升沿。左鍵單擊 Drain current 軸并重新調(diào)整軸以稍微測量當前所需的漏極電流?,F(xiàn)在可以測量時間。上升時間通常在所需電壓擺幅的 10% 至 90% 上測量。您可能需要稍微更改模型電容以滿足數(shù)據(jù)表性能。