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信號完整性基礎--S參數(shù)(一)1

01 S參數(shù)概述

S參數(shù)也叫散射參數(shù),最初是用來描述射頻電路應用中入射波和反射波的關系,隨著數(shù)字信號的高速化,S參數(shù)在高速數(shù)字信號的應用中逐漸普及。

S參數(shù)將被測物當作黑匣子,通過測量輸入輸出端口來表現(xiàn)網(wǎng)絡特性,不論哪一個端口有信號進入,都能通過測量其他端口散射的信號,來獲得信號信息。

如下圖,將一段傳輸線網(wǎng)絡封裝成一個二端口S參數(shù)模型,通過時域仿真對比,兩者眼圖的眼寬和眼高基本一致。在一些復雜的仿真設計中,我們也可以通過封裝并調(diào)用S參數(shù)模型的方法來優(yōu)化設計。

S參數(shù)通常用矩陣的形式描述各端口特性。二端口網(wǎng)絡可以用一個2*2的矩陣表示,如[S11,S12,S21,S22]……

查看原文:http://www.e-ticket.cn/eestar/article-9404.html

Gnd孔對串擾的影響

在數(shù)字信號設計中,有一些信號過孔幾種區(qū)域,那么這些孔之間的串擾多有大呢,附近的Gnd過孔對這種串擾有多少改善作用呢?

我們用如下模型來驗證一下:

模型大概為400mil x 400mil,中間兩個為信號過孔,孔間距為40mil,此時兩個信號孔周圍沒有gnd過孔,我們來看一下此時兩個過孔的近端串擾和遠端串擾是多少。

首先看一下,當參考層完整時的信號S參數(shù)和信號波形:

查看原文:http://www.e-ticket.cn/eestar/article-9567.html

容性反射和感性反射

反射是因為阻抗突變,實際產(chǎn)品設計中,需要注意阻抗突變的情況有很多,比如封裝引線、信號轉(zhuǎn)換層的過孔、焊盤、樁線、分支結構、返回路徑的跨分割等等。阻抗突變分為容性突變和感性突變,容性突變和感性突變對應于容性反射和感性反射。

容性反射

實際產(chǎn)品設計中,常見的容性反射發(fā)生于信號鏈路的過孔和焊盤。為了直觀體現(xiàn)容性反射的容性特征,搭建相關的電路,如下圖:

仿真得出電容的電壓電流曲線:

仿真的結果說明,電容上電壓不會突變,電壓曲線是緩慢上升的。也就是說,電容的充放電是需要時間的,很多資料會給出電容充放電電壓和電流的相關公式:

由仿真結果和公式可以看出,充電曲線是呈指數(shù)增長的,放電曲線是呈指數(shù)衰減的。經(jīng)過5個時間常數(shù)的時間間隔后,充電電壓向上增長到終值的99%(可認為100%),同理也可以推出,放電電流向下衰減,可衰減99%(可認為100%),至初值的1%(可認為0%)……

查看原文:http://www.e-ticket.cn/eestar/article-9692.html

影響串擾的因素

線間距

近端串擾,線間距越大,不管是表層走線還是內(nèi)層走線,串擾越小。

遠端串擾,線間距越大,串擾越小。

在實際產(chǎn)品的設計中,相對于串行信號,DDR并行信號是需要更多關注線間距影響串擾……

查看原文:http://www.e-ticket.cn/eestar/article-9527.html

一三層走線就沒有串擾么

我們用如下結構仿真說明;

我們用如下模型來驗證一下:

模型為400mil x 200mil,4層結構,傳輸線分別為第一層和第三層,理想情況下第一層和第三層有中間的GND隔開,串擾幾乎沒有:

而PCB上有時候GND層并不是理想狀態(tài)下完整的平面,如下圖,我們用這個結構來驗證一下此時一三層的串擾是多少;

此時,我們可以掃描第二層GND層的溝槽距離傳輸線的水平距離,來看一下串擾的大?。?/p>

串擾S參數(shù)如下……

查看原文:http://www.e-ticket.cn/eestar/article-9582.html

近端串擾和遠端串擾的大小

前面說了近端串擾和遠端串擾的耦合電流和方向,那么近端串擾和遠端串擾到底有多大,或者是一個什么樣的量級,這部分就從公式和仿真對比開始。

根據(jù)前文仿真得出的互容互感相互情況,下表列出3W的的仿真數(shù)據(jù):

容性耦合(3W)

感性耦合(3W)

近端串擾的大小

根據(jù)前文仿真的相關數(shù)據(jù)和近端串擾系數(shù)公式,如下圖:

以此計算得出近端串擾系數(shù)3W為2% 。根據(jù)前文 容性耦合和感性耦合 仿真得出的互容和互感數(shù)據(jù),計算得出2W的線間距為4.8%,4W的線間距為1.1%。

為了便于和仿真的數(shù)據(jù)進行對比,將輸入電壓調(diào)成1V,便于后面的計算和比較。

仿真得出的曲線和數(shù)據(jù)如下:

……

查看原文:http://www.e-ticket.cn/eestar/article-9478.html

信號跨分割的影響

在數(shù)字信號設計中,信號通常參考完整的地平面,而如果不得已參考平面出現(xiàn)了溝槽,即通常我們說的跨分割,此時信號質(zhì)量會出現(xiàn)什么樣的影響呢?

我們用如下模型來驗證一下:

信號線為表層微帶線,第二層、第三層都是GND,第二層有跨分割溝槽。

首先看一下,當參考層完整時的信號S參數(shù)和信號波形:

可以看到信號是非常好的;

下面看一下,信號跨分割時的S參數(shù)和信號質(zhì)量:

 可以看到S參數(shù)當中存在很大的諧振,同時波形中也存在較大的波動……

查看原文:http://www.e-ticket.cn/eestar/article-9370.html

SIPI信號電源完整性之ADS中Vprbs電壓源的高級用法

導讀:在當今電子行業(yè)中信號仿真作為信號完整性、電源完整性的重要手段之一,正在被越來越多的企業(yè)和工程師所重視,而ADS在眾多仿真軟件中的作用無疑是舉足輕重的;今天就來介紹一下ADS中時域仿真組件中的Vprbs電壓源的用法;相信大家對于ADS的瞬態(tài)仿真控件并不陌生,這里舉個例子,一筆帶過;

如下波形就是通過時域瞬態(tài)仿真控件得到的波形:

值得說明一下波形是通過時間點、電壓值的形式給出的,這就涉及到仿真的起始和結束時間,而波形仿真的準確度,這仿真的時間步長有關;

下面看一下同樣速率的波形的邊沿如果變緩的話,波形如下:

由此可以看出,波形邊沿對信號質(zhì)量的影響;

PRBS電壓源的用法

上邊對瞬態(tài)仿真控件就簡單介紹到這里,下面來看一下PRBS電壓源的用法;

PRBS碼是Pseudo random binary sequence的縮寫,即偽隨機碼,由移位寄存器和異或運算組成,進行異或運算的寄存器稱為taps,寄存器的初始值稱為seed,PRBS并不是真正的隨機碼,而是有一定的規(guī)律可言的,他的重復bit數(shù)為2的n次方-1,例如PRBS7的碼型長度為2的7次方-1=127個……

查看原文:http://www.e-ticket.cn/eestar/article-9365.html

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