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ISO16750-4:2023中文版翻譯加詳細(xì)解讀-第9集 防塵試驗(yàn)
本文是對(duì)ISO16750-4:2023版翻譯和解讀的第9期,針對(duì)防塵試驗(yàn)試驗(yàn)進(jìn)行介紹和解讀。防塵試驗(yàn)在ISO16750-4:2023版中描述僅有如上幾頁(yè)內(nèi)容,但是其引用和參考的標(biāo)準(zhǔn)非常多,首先其最重要
01-26 09:51
AEC-Q100車規(guī)芯片驗(yàn)證G5:DROP - Package Drop封裝跌落
AEC-Q100文件,是芯片開(kāi)展車規(guī)等級(jí)驗(yàn)證的重要標(biāo)準(zhǔn)和指導(dǎo)文件,本文將重點(diǎn)對(duì)G組的第5項(xiàng)DROP - Package Drop封裝跌落測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行介紹。AEC Q100 表格2中G組內(nèi)容DROP -
01-25 11:01
AEC-Q100車規(guī)芯片驗(yàn)證G4:GFL - Gross/Fine Leak 泄露測(cè)試
AEC-Q100文件,是芯片開(kāi)展車規(guī)等級(jí)驗(yàn)證的重要標(biāo)準(zhǔn)和指導(dǎo)文件,本文將重點(diǎn)對(duì)G組的第4項(xiàng)GFL - Gross/Fine Leak 泄露測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行介紹。AEC Q100 表格2中G組內(nèi)容GFL -
01-25 10:35
AEC-Q100車規(guī)芯片驗(yàn)證G3:CA - Constant Acceleration 恒加速度
AEC-Q100文件,是芯片開(kāi)展車規(guī)等級(jí)驗(yàn)證的重要標(biāo)準(zhǔn)和指導(dǎo)文件,本文將重點(diǎn)對(duì)G組的第3項(xiàng)CA - Constant Acceleration恒加速度項(xiàng)目進(jìn)行介紹。AEC Q100 表格2中G組內(nèi)容C
01-25 10:14
車規(guī)芯片認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)-AEC Q100 REV J最新版更新內(nèi)容匯總
AEC-Q100最新的版本是Rev_J,剛剛發(fā)布于2023年8月,因?yàn)橹氨救朔g了Rev H版本,借此機(jī)會(huì)也開(kāi)始進(jìn)行J版本的更新翻譯。AEC Q100 Rev J版本的封面全文翻譯工作正在進(jìn)行,完成
01-25 08:36
AEC-Q100車規(guī)芯片驗(yàn)證G2:VFV - Variable Frequency Vibration介紹
AEC-Q100文件,是芯片開(kāi)展車規(guī)等級(jí)驗(yàn)證的重要標(biāo)準(zhǔn)和指導(dǎo)文件,本文將重點(diǎn)對(duì)G組的第2項(xiàng)VFV - Variable Frequency Vibration變頻震動(dòng)項(xiàng)目進(jìn)行介紹。AEC Q100 表
01-22 11:04
AEC-Q100車規(guī)芯片驗(yàn)證G1:MS - Mechanical Shock 機(jī)械震動(dòng)實(shí)驗(yàn)介紹
AEC-Q100文件,是芯片開(kāi)展車規(guī)等級(jí)驗(yàn)證的重要標(biāo)準(zhǔn)和指導(dǎo)文件,本文將重點(diǎn)對(duì)G組的第1項(xiàng)MS - Mechanical Shock機(jī)械震動(dòng)項(xiàng)目進(jìn)行介紹。AEC Q100 表格2中G組內(nèi)容MS - M
01-21 10:13
車規(guī)芯片認(rèn)證AEC Q100中FG、CHAR、PAT、SBA、ED的關(guān)系和區(qū)別
在完成了AEC Q100 F組的兩項(xiàng)內(nèi)容介紹后,關(guān)于AEC文件中測(cè)試方法和統(tǒng)計(jì)指導(dǎo)的幾個(gè)內(nèi)容都已經(jīng)完成,這幾個(gè)內(nèi)容對(duì)于剛接觸AEC認(rèn)證和車規(guī)體系的朋友們理解起來(lái)可能有些吃力,所以在此進(jìn)行一下總結(jié)和對(duì)比
01-20 09:27
ISO16750-4:2023中文版翻譯加詳細(xì)解讀-第8集 混合氣體試驗(yàn)
本文是對(duì)ISO16750-4:2023版翻譯和解讀的第8期,針對(duì)混合氣體流動(dòng)腐蝕試驗(yàn)試驗(yàn)進(jìn)行介紹和解讀。ISO16750-4中關(guān)于混合氣體流動(dòng)腐蝕試驗(yàn)的描述非常簡(jiǎn)單,因此更多的試驗(yàn)細(xì)節(jié)需要參考引用標(biāo)準(zhǔn)
01-19 12:26
AEC-Q100車規(guī)芯片驗(yàn)證F2:SBA介紹 Statistical Bin/Yield Analysis
AEC-Q100文件,是芯片開(kāi)展車規(guī)等級(jí)驗(yàn)證的重要標(biāo)準(zhǔn)和指導(dǎo)文件。F組驗(yàn)證是DEFECT SCREENING TESTS缺陷篩查測(cè)試本文將重點(diǎn)對(duì)F組的第2項(xiàng)SBA --- Statistical Bi
01-18 09:22
暫無(wú)內(nèi)容
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