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那請教手機內(nèi)是否會有限流電路呢？

要用示波器測試在輸出最高電壓滿載的電壓有效值，然后看規(guī)格書的降額吧。你換耐壓再高的看是否會壞

沒想到宜家找的代工廠這么差。。。。?；仡^我看是哪家代工做的，上報上來

不管是輸出差模電感還是原邊諧振電感，都會影響到MOS管的ZVS，但是不會影響你測試到的這種高頻振蕩。不管是你MOS驅(qū)動還是你的原邊電流波形，都有相同頻率的振蕩，難道你不認為這是測試設備或者測試方法造成的問題嗎？比如用了不合適量程的探頭，探頭阻抗不對耦合到開關器件的開關噪聲等等。如果不是測試問題，那肯定就是你磁性元件的寄生電容與漏感之類的振蕩，具體是怎么形成的振蕩，你可以通過仿真來模擬。單純理論的器件參數(shù)設計不合理是不會造成你這種振蕩的。

這么高頻的震蕩，我覺得石你測試的原因。原邊電流是電感流過地，有電感的電流很難出現(xiàn)這樣高頻的大幅度震蕩。還一種就是電感與寄生電容發(fā)生震蕩，但是很少。

還是仔細檢查下NMOS的驅(qū)動吧，如果NMOS可靠關斷了，PMOS怎么可能有電流通過呢

你的NMOS的S和D反了，EN不管什么信號，都一樣這樣通過NMOS的體二極管將你PMOS的驅(qū)動拉到地，所以才保持一直12V

什么拓撲？主變匝比多少？現(xiàn)用二極管耐壓多少？

典型的EMC問題電容觸屏信號被干擾了。電源產(chǎn)生的噪聲通過輸出傳入PAD了。最好是解剖一個PAD的電源，對比開關波形，看看他們跟你們做的差異。