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不管是輸出差模電感還是原邊諧振電感,都會影響到MOS管的ZVS,但是不會影響你測試到的這種高頻振蕩。不管是你MOS驅(qū)動還是你的原邊電流波形,都有相同頻率的振蕩,難道你不認(rèn)為這是測試設(shè)備或者測試方法造成的問題嗎?比如用了不合適量程的探頭,探頭阻抗不對耦合到開關(guān)器件的開關(guān)噪聲等等。如果不是測試問題,那肯定就是你磁性元件的寄生電容與漏感之類的振蕩,具體是怎么形成的振蕩,你可以通過仿真來模擬。單純理論的器件參數(shù)設(shè)計(jì)不合理是不會造成你這種振蕩的。