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我們用的是裸片，在高倍顯微鏡下可以看到芯片有燒過的痕跡。

元器件沒有變化。波形在低壓的時候也沒有問題。昨天仔細觀察了一下，2110芯片（裸芯片）低端驅(qū)動圖騰柱的一個晶體管上有不少元胞被燒掉了。就是紅圈中的那個管子。所有壞掉的產(chǎn)品都有這個現(xiàn)象，都是這個管子燒掉。而高端的兩個管子卻都沒有問題。怎么會就燒這個管子呢？是我的柵極電阻選太小，半橋下管因為米勒效應瞬間回灌一個大電流？但那樣也應該燒紅圈下面那個圖騰柱管子啊。[圖片]

VCE在驅(qū)動電流超過一定值時也是基本不變的，也可以看成一個常量這句不對吧？當三極管飽和后，進入的是恒流區(qū)域，柵極驅(qū)動電流與集電極電流無關(guān)，集電極電流也與集電極-發(fā)射極電壓無關(guān)，恒定的是集電極電流，而不是集電極-發(fā)射極電壓即飽和壓降吧？

[圖片][圖片]從圖像來說，在固定某個驅(qū)動電壓值時，IGBT的伏安特性的線性度要比MOS管好啊。為何指標上不規(guī)定某幾個常用驅(qū)動電壓時的等效導通電阻呢？而且從圖像上看，MOS管也存在類似IGBT飽和區(qū)的恒流區(qū)

沒必要那么復雜，直接把MOS管當一個二極管來測就可以了。MOS管的體二極管就是他本身，熱阻測試的時候也是測量二極管結(jié)壓降與溫度的關(guān)系。

增加關(guān)斷電阻，關(guān)斷延遲不就更大?

那么驅(qū)動芯片上標注的灌電流/拉電流就又有什么意義呢？比如我現(xiàn)在用IR2130驅(qū)動IGBT，即便將驅(qū)動電阻直接短路掉，IGBT的柵極驅(qū)動信號開通時間依然要1.8us.這個時候顯然不能認為驅(qū)動是個無內(nèi)阻的恒壓源吧？

原方案是7個合金采樣電阻并聯(lián)，太占地方了。想把這個空間省出來放別的。

求教，啥叫正常有效的尖峰？測試條件是電壓56V，三相橋驅(qū)動無刷電機，電流30A時，測量其中一個橋臂下管的Vds波形。

多謝指點，原來耐壓還是和時間有關(guān)的啊。原來一直以為超過了就一定損壞。