隨著物聯(lián)網(wǎng)的發(fā)展與普及，Wi-Fi等通訊功能的配置也在加速。為了保證通訊功能，所有的白色家電和黑色家電都需要始終處于通電狀態(tài)，同時顯示器也始終保持著大型化、高性能化和多功能化的發(fā)展趨勢。這樣的發(fā)展趨勢就意味著需要不斷提高產(chǎn)品待機功耗和工作功耗，而從生態(tài)能源的角度出發(fā)，我們需要做的是降低功耗。

為此，羅姆推出了全新過零檢測IC“BM1ZxxxFJ系列”來應(yīng)對白色家電的功耗問題。

為什么是過零檢測IC？

傳統(tǒng)電源方面，羅姆從AC/DC、DC/DC的電源部分來開展降低功耗的工作。從下圖我們可以看到羅姆已經(jīng)將傳統(tǒng)電源的待機功耗已經(jīng)從3.6W降到了1.7W左右，將近50%多的能耗降低是相當(dāng)大幅的優(yōu)化。2013年，歐盟規(guī)定了0.5W待機功耗的標(biāo)準(zhǔn)，這意味著即使AC/DC和DC/DC降得再低，也沒有辦法滿足0.5W的標(biāo)準(zhǔn)。那么換個角度，電機輸入電壓檢測電路和過零檢測電路這部分十年來都沒有改變，所以羅姆著眼于此，開發(fā)過零檢測IC。

先進的過零檢測IC，帶來極低的待機功耗

首先，傳統(tǒng)的AC/DC和DC/DC、電機輸入電壓檢測以及過零檢測的待機總功耗在1.7W左右。其次，僅僅是過零檢測電路的部件數(shù)量就達到了11個。顯而易見，使用光耦的電路存在總待機功耗較大和部件較多的問題。同時因為光耦的存在，會導(dǎo)致延遲時間就較大，造成在開關(guān)的功率損耗，轉(zhuǎn)化效率也會較差。同時光耦里面有發(fā)光二極管，發(fā)光二極管存在樹脂等隨時間老化的問題，隨著時間的變遷，它的可靠性會不斷變差。

先進的過零檢測IC解決了光耦的問題，有助于降低家電產(chǎn)品的待機功耗。下圖是一個過零檢測方案，首先它沒有電機輸入電壓檢測的部分，所以待機功耗為0。過零檢測IC的功耗在10mW左右，除去AC/DC和DC/DC部分它的總功耗是10mW，功耗已經(jīng)顯著降低。并且我們可以直觀看到它的部件只有四個，整體的部件數(shù)量減少，方案的可靠性提高。由于芯片內(nèi)置了電壓檢測電路功能，所以電機應(yīng)用中省掉了這部分電路，使整個電源變得更加簡潔、小型。

大幅減少延遲時間，可輕松替換以往的過零檢測電路

通過集成化，BM1ZxxxFJ系列系列可大幅減少過零檢測時的延遲時間，基本可以控制到50微秒以內(nèi)。在各種電源電壓條件下，都可以高效地驅(qū)動電機和微控制器，有助于提高全球家電產(chǎn)品的可靠性和效率。

另外，羅姆推出過多款過零檢測IC系列產(chǎn)品，有適合用于普通整流方式的，也有適合于倍壓整流方式的，有支持脈沖的觸發(fā)方式，也有支持邊緣的觸發(fā)方式。不過無論原來是哪種應(yīng)用方式，BM1ZxxxFJ系列系列都可以做到輕松的替換。過零檢測IC的內(nèi)部還有一個電壓鉗位的功能，用于保證整個后端的MCU不會因為輸入電壓過高而導(dǎo)致?lián)p壞，這樣就從另一個角度提高了整個方案的可靠性。

全新的過零檢測IC解決了光耦電路面臨的三個問題，一是待機功耗比較大，二是由于光耦的特性導(dǎo)致的延遲和轉(zhuǎn)化效率差的問題，第三是它本身會光耦因老化問題造成的后期可靠性變差的問題。同時，過零檢測IC本身尺寸較小，十分有利于整個電源部分的小型化、集成化，對整個電源發(fā)展來說這是一個較大的提高。