另外提供一個簡單測試LM2567芯片是否損壞的方法，尤其適合在亂搭后不工作時候測試好壞。

一；取下芯片，字符面對正自己，數(shù)字萬用表，黑表筆接第一腳，紅表筆按順序從第5腳測到第二腳，應(yīng)為無窮、無窮、548、530

二：紅表筆接第一腳，黑表筆按順序從第5腳測到第二腳，應(yīng)為1458、無窮大、1235、1764（注意有些數(shù)字表測試不出1V以上的壓降，這樣上面的1458，1235，1764會顯示無窮大）

以上測試模塊管腳壓降會有少許偏差，屬于正常。

實測黃白、藍綠、綠色磁環(huán)，以及鐵氧體黑色磁環(huán)都沒有下面這個鐵硅鋁磁環(huán)好。

美磁的KOOL MU(鐵硅鋁）磁粉芯為分布式氣隙磁芯，由鐵基合金粉末制成，在高頻下具低損耗特性。幾近為零的磁致伸縮系數(shù)使得KOOL MU磁粉芯成為消除濾波電感器中高頻噪聲的最佳選擇。在高頻應(yīng)用中，鐵粉芯產(chǎn)生的磁芯損耗是造成不良溫升的主要原因，而KOOL MU磁粉芯的損耗很低，高頻使用時性能優(yōu)越，溫升相對也很低。相對于鐵粉芯，KOOL MU磁粉芯尺寸更為小巧，效率也更高。

 

77050-a7（外徑12.7毫米）  77930-a7（外徑23毫米） 鐵硅鋁磁環(huán)

轉(zhuǎn)貼：升壓電感的磁芯，我們可以有多種選擇：磁粉芯、鐵氧體磁芯、開了氣隙的非晶/微晶合金磁芯。這幾種磁芯是各有優(yōu)缺點，
磁粉芯的優(yōu)點是，μ值低，所以不用額外再開氣隙了。氣隙平均，漏磁小，電磁干擾比較低，不易飽和。缺點是，基本是環(huán)形的，繞線比較困難，不過目前市場上也出現(xiàn)了EE型的。另外，μ值隨磁場強度的增加會下降。設(shè)計的時候需要反復(fù)迭代計算。
鐵氧體磁芯的優(yōu)點是損耗小，規(guī)格多，價格便宜，開了氣隙后，磁導(dǎo)率穩(wěn)定。缺點是需要開氣隙，另外飽和點比較低，耐直流偏磁能力比較差。
非晶/微晶合金的優(yōu)點是飽和點高，開氣隙后，磁導(dǎo)率穩(wěn)定。同樣缺點是需要開氣隙。另外，大都是環(huán)狀的。
在此說明一下，環(huán)形鐵芯雖然繞線比較困難，沒有E型什么帶骨架的那種容易繞。但是環(huán)形鐵芯繞出來的電感分布電容小，對將來處理電磁兼容帶來了很多便利之處。E型的骨架繞線一般都是繞好幾層，那么層間電容比較大，對EMC產(chǎn)生不利影響。另外，開氣隙的鐵芯，在氣隙處，銅損會變大。因為氣隙處的漏磁在銅線上產(chǎn)生渦流損耗。
下面我們就選擇一種環(huán)形磁粉芯來作為我們PFC電感的磁芯。我們上面已經(jīng)計算出了幾個參數(shù)：
輸入電流最大有效值Iinrmsmax=Pin/Umin=652/85=7.67A
輸入電感電流最大峰值為：ILpk=Iinrmsmax+0.5*Ihf=10.85+0.5*2.17=11.94A
升壓電感最小值為Lmin=(0.25*Uout)/(Ihf*fs)=(0.25*400)/(2.17*65KHz)=709uH
下面繼續(xù)計算：
線圈選擇電流密度為5A/平方毫米，那么可以計算出我們需要用的漆包線的線徑為：
2×SQRT(7.67/(5×3.14))=1.4毫米
因為我們這是按照最極限的輸入電壓也就是說按照最大的輸入電流時來計算的。所以電流密度取的裕量比較大。實際按照不同的成本要求，也可以把電流密度取大一些，比如此處取電流密度為8A/平方毫米的話，那么可以得到線徑為：
2×SQRT(7.67/(8×3.14))=1.1毫米
這也是可以接受的。
因為是CCM模式的工作方式，基波是低頻的半正弦波，在此處我們就不考慮趨膚效應(yīng)了。選用單根的漆包線就可以了。
常用的幾個公式：
LI=NΔBAe
L：電感量，I：電流，N：匝數(shù)，ΔB：磁感應(yīng)強度變化量，Ae：磁芯截面積
L=N×N×Al
Al：電感系數(shù)
H=0.4×3.14×N×I/Le
H：磁場強度，Le：磁路長度
計算磁芯大小的方法有幾種，最常用的就是AP法，但實際上，因為磁粉芯的磁導(dǎo)率隨磁場強度變化較大，計算經(jīng)常需要迭代重復(fù)。另外，因為磁環(huán)的規(guī)格相對比較少。我們就不用AP法計算了。而是直接拿磁芯參數(shù)過來計算，幾次就可以得到需要的磁芯了。經(jīng)驗越豐富，計算就越快了。
適合用來做PFC電感的磁粉芯主要有三類：鐵鎳鉬(MPP)、鐵鎳50(高磁通)、鐵硅鋁(FeSiAl)。其中，鐵鎳鉬粉芯的飽和點大概在B=0.6附近。而后兩者都可以達到1以上。