在設(shè)計電源時,工程師通常將效率下降的原因重點(diǎn)放在與MOSFET的傳導(dǎo)損耗有關(guān)上。在存在大RMS電流的情況下,例如在不連續(xù)導(dǎo)通模式(DCM)下工作的轉(zhuǎn)換器所經(jīng)歷的電流,設(shè)計人員可以選擇低RDS(on)MOSFET,這意味著更大的裸片尺寸和更大的輸入電容。減小傳導(dǎo)損耗的代價是增加輸入電容,并相應(yīng)增加控制器的功耗。隨著開關(guān)頻率的增加,這個問題變得更加棘手。
MOSFET導(dǎo)通和關(guān)斷時,需要考慮柵極電流。 在導(dǎo)通時間內(nèi),流入控制器VCC的峰值電流將MOSFET柵極充電至VCC。 在關(guān)斷時間內(nèi),存儲的電流循環(huán)回到芯片地。 如果我們整合相應(yīng)的區(qū)域,實(shí)際效果如下
我們得到驅(qū)動晶體管的柵極電荷Qg,再乘以開關(guān)頻率Fsw,得到控制器VCC輸送的平均電流(值得注意此時柵極中的平均電流為零)。可以得出,控制器產(chǎn)生的總開關(guān)功率(忽略導(dǎo)通損耗)為:
如果我們從一個12V控制器以100kHz的開關(guān)速度驅(qū)動一個100nC的柵極電荷MOSFET,則驅(qū)動器中的功耗為:
鑒于其物理結(jié)構(gòu),MOSFET具有許多寄生元件,其中電容起著重要的作用。 MOSFET中這些元件的基本配置將Cgd表示為從柵極連接到漏極的電容器,Cgs表示為從柵極連接到源極的電容器,而Cds表示為從漏極連接到源極的電容器。 這些術(shù)語定義了以下數(shù)據(jù)表符號:
驅(qū)動程序看到的實(shí)際上是門到源的連接。 當(dāng)將具有斜率dt的電壓V施加到電容器C(例如,驅(qū)動器的輸出電壓)時,它將在電容器內(nèi)部推動電流為:
當(dāng)我們向MOSFET施加電壓時,我們會產(chǎn)生一個等于Igate = i1 + i2的輸入電流Igate。 將上述方程與正確的電壓節(jié)點(diǎn)結(jié)合使用可得出:
當(dāng)我們在MOSFET的柵極-源極上施加電壓Vgs時,我們知道即使它是非線性的,其漏極-源極電壓Vds也會下降。 因此,我們可以通過以下方法定義連接這兩個電壓的負(fù)增益:
帶入上述公式可以得到:
在導(dǎo)通或關(guān)斷期間,從柵極源電極“看到”的總等效電容器Ceq為:
術(shù)語(1 – Av)稱為“米勒效應(yīng)”,它描述了電子設(shè)備的輸出和輸入之間的電容性反饋。 多年前,約翰·米勒(John M. Miller)首次在真空管中研究了這種現(xiàn)象。 當(dāng)柵極-漏極電壓接近零時,實(shí)際上會發(fā)生米勒效應(yīng),這是因?yàn)檫@是發(fā)生最陡峭躍遷的地方。
圖1 MOSFET典型柵極電荷圖
圖1表示功率MOSFET的典型柵極電荷圖。 通過恒定電流對柵極充電并觀察柵極-源極電壓獲得該圖。 當(dāng)Ciss根據(jù)等式5突然增加時,電流持續(xù)流動。 但是,由于電容器急劇增加,因此相應(yīng)的電壓增加dVgs受到嚴(yán)格限制;因此,幾乎為零的斜率:也就是圖1中所示的平穩(wěn)段。
正如Qg圖還顯示的那樣,減小過渡期間Vds(t)有助于降低平臺效應(yīng)。我們可以看到,與Vds = 400V相比,在Vds = 100 V時,平穩(wěn)寬度(對應(yīng)于注入的庫侖)減小了。曲線下方的面積也減小了。因此,如果我們設(shè)法在MOSFET的Vds等于零時導(dǎo)通MOSFET,那么米勒效應(yīng)就會消失。在零電壓下操作電源開關(guān)的技術(shù)稱為零電壓開關(guān)(ZVS),一種廉價的方法是使用準(zhǔn)諧振(QR)模式的反激式轉(zhuǎn)換器。我們沒有等到下一個時鐘周期打開開關(guān),而是等到漏極上的自然振鈴將電壓推至接近零時為止。此時,通過專用引腳檢測到,控制器重新激活晶體管。 ZVS操作通過在開關(guān)處反射足夠的反射電壓(N×[Vout + Vf])獲得,因此需要通常為700 V(通用范圍)的高壓MOSFET。圖2顯示了基于MPS的HFC0100的QR草圖。圖3顯示了該轉(zhuǎn)換器在ZVS模式下工作時的柵極-源極電壓和漏極波形,我們可以看出沒有發(fā)現(xiàn)在硬開關(guān)中的米勒平臺。
圖2 基于HFC0100的準(zhǔn)諧振反激原理圖
圖3 準(zhǔn)諧振波形
我們從波形中可以看出沒有明顯的彌勒平臺,但是會有一個凸起的震蕩,我們透過該現(xiàn)象通過仿真來還原該現(xiàn)象,分析是啥原因,仿真是基于Simetrix/simplis使用infineonMOS實(shí)際模型進(jìn)行仿真。
1、寄生參數(shù)較大時
2、寄生參數(shù)較小或不存在時
這里要說明一下,仿真的精度會影響還原實(shí)際的效果, 不過我們不難發(fā)現(xiàn),感性負(fù)載也就是雜散電感在Vgs上生成的電壓尖峰往往會在米勒平臺之前, 由于 IDS的上升過程和 VGS進(jìn)入 米勒平臺為同一時間,在雜散電感上形成的感應(yīng)電壓便疊加在了米勒平臺區(qū)間 ,而雜散電感較小或者單純阻性時,由于是準(zhǔn)諧振模式,幾乎看不見米勒平臺
總之,如果需要大的Qg MOSFET,在ZVS中運(yùn)行反激轉(zhuǎn)換器是一個減少與平均驅(qū)動電流相關(guān)的損失的好主意。 該技術(shù)也廣泛用于諧振轉(zhuǎn)換器。